重庆海德世拉索系统(集团)有限公司实验检测中心

检测项：防水性 检测样品：汽车用拉索总成 标准：制动拉索总成 试验规范 4751Z-S5A-0030（2000）

检测项：防水性 检测样品：玻璃升降器 标准：汽车玻璃升降器QC/T626-2008

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

颛泓（上海）测试技术服务有限公司青岛分公司

检测项：耐磨性测试 检测样品：纺织品 标准：拒水性：喷淋试验 AATCC 22-2010

检测项：表面抗湿性测试 检测样品：纺织品 标准：纺织品 防水性能的检测和评价 沾水法 GB/T 4745-2012 纺织织物-表面抗湿性测定(沾水试验) ISO 4920:2012 EN ISO 4920:2012 BS EN ISO 4920:2012 DIN EN ISO 4920:2012

机构所在地：山东省青岛市 更多相关信息>>

上海嘉麟杰纺织品股份有限公司检测中心

检测项：拨水性 检测样品： 标准：纺织品 织物抗表面沾湿(喷淋试验)性的测定. ISO 4920:2012

检测项：pH值 检测样品： 标准：防水性测试：喷淋试验 AATCC 22:2010

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

江苏南纬悦达纺织研究院有限公司检验中心

检测项：抗渗水性 检测样品：纺织品 标准：不测C法

检测项：抗渗水性 检测样品：纺织品 标准：不测C法

检测项：抗渗水性 检测样品：纺织品 标准：不测C法

机构所在地：江苏省盐城市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：数字集成电路 标准：GJB597A-1996 《半导体集成电路总规范》 GB/T17574-1998 《半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路》

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

上海仪器仪表自控系统检验测试所

检测项：全部参数 检测样品：气动调节阀 标准：气动调节阀GB/T 4213-2008 工业阀门压力试验GB/T 13927-2008 工业过程控制系统用气动长行程执行机构JB/T 5223-91 阀门的检验与试验JB/T 9092-1999 通用阀门流量系数和流阻系数的试验方法JB/T 5296-

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998 《半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理》SJ/T10741-2000

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998 《半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理》SJ/T10741-2000

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：电压比较器、运算放大器 标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路》GB/T17940-2000

机构所在地：江苏省扬州市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

广东省特种设备检测研究院

检测项：全部参数 检测样品：低温容器的绝热材料 标准：《粉尘物性试验方法》GB/T 16913-2008 《低温装置绝热用膨胀珍珠岩》JC/T 1020-2007 《绝热材料稳态热阻及有关特性的测定-热流计法》GB 10295-2008 《纤维增强塑料导热系数试验方法》 GB/T 3139-2005

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：运算 (电压)放大器 标准：半导体集成电路 运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996第2.1、2.3、2.5、2.6、2.7、2.8、2.11条

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：CMOS 集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的 基本原理 SJ/T10741－2000 第5.1、5.2、5.3、5.7、5.8、5.9、5.10、5.11、5.12、5.13、5.14、5.15、5.16条

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：CMOS 集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的 基本原理 SJ/T10741－2000 第5.1、5.2、5.3、5.7、5.8、5.9、5.10、5.11、5.12、5.13、5.14、5.15、5.16条

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>