中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：老炼 检测样品：半导体集成电路 标准：GJB548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》方法1015.1老炼试验

检测项：老炼 检测样品：半导体集成电路 标准：GJB548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》 方法1015.1老炼试验

检测项：湿热试验 检测样品：电工电子产品与军用设备 标准：GJB 548B-2005《微电子器件试验方法和程序》

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：老炼试验 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法和程序　 GJB548B-2005 方法1015.1 微电路测试方法 MIL-STD-883H：2010 方法1015.10

检测项：启动过冲 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

检测项：启动延迟 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：老炼（二极管、整流管和稳压管） 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

检测项：老炼（晶体管） 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

检测项：温度循环 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：输出低电平电流IOL 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：电源电流IDD 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：开帽内部设计目检 检测样品：微电子器件 标准：《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005

检测项：X射线照相检验 检测样品：微电子器件 标准：《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005

检测项：稳定性烘焙 检测样品：微电子器件 标准：《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：电容量 检测样品：微电子器件 标准：GJB548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》

检测项：损耗(Q) 检测样品：微电子器件 标准：GJB548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》

检测项：气密性 检测样品：微电子器件 标准：GJB548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：外部目检 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005

检测项：基准电压 （VREF） 检测样品：半导体集成电路数字集成电路 标准：半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：功能测试 检测样品：半导体集成电路数字集成电路 标准：半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

中兴通讯股份有限公司材料实验室

检测项：探针测试 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

检测项：内部目检 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

检测项：附加电气试验 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：方法301 介质耐电压试验 检测样品：微电子器件试验 标准：GJB 548B-2005 微电子器件试验

检测项：方法302 绝缘电阻测试 检测样品：微电子器件试验 标准：GJB 548B-2005 微电子器件试验

检测项：稳定性烘焙 检测样品：微电子器件试验 标准：GJB 548B-2005 微电子器件试验

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

广州广电计量检测股份有限公司

检测项：浸渍 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 微电路试验方法 MIL-STD-883H-2010

检测项：耐湿 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 微电路试验方法 MIL-STD-883H-2010

检测项：寿命 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 微电路试验方法 MIL-STD-883H-2010

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>