非高斯随机振动激励下电子零件加速测试的疲劳寿命预测模型（5页）

• 资料介绍

  非高斯随机振动激励下电子零件加速测试的疲劳寿命预测模型（5页）

  Fatigue life prediction model for accelerated testing of electronic components under non-Gaussian random vibration excitations

  Yu Jiang,J.Y. Tao,Y.A. Zhang,G.J. Yunb

  基于随机振动和疲劳理论，提出了一种非高斯随机振动激励下电子元件疲劳寿命的预测模型。该数学模型将电子部件的振动疲劳寿命，振动激励的特征（例如均方根，功率谱密度，光谱带宽和峰度值）与电子组件的动态传递特性（例如电子振动）综合关联起来。固有频率和阻尼比）。同时提出了确定模型中未知参数的详细求解方法。为了验证模型，进行了一系列随机振动疲劳加速试验。结果表明，基于模型的预测疲劳寿命与实际试验吻合。该疲劳寿命预测模型可用于振动疲劳加速试验的定量设计，可用于评估高斯和非高斯随机振动环境下电子组件的长期疲劳可靠性。

• 资料大小：
  261.69KB
• 所属类别：
  科研开发
• 更新日期：
  2020-10-21
• 适用行业：
  电子电气；机械设备与装置；计量与测量
• 上传人：
  sgm19980131
• 标 签：

  随机振动 加速疲劳寿命测试

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