AEC-Q001 Rev-D 零件平均测试指南（12页）

• 资料介绍

  GUIDELINES FOR PART AVERAGE TESTING

  AEC-Q001 Rev-D 零件平均测试指南（12页）

   

  1. 范围

  本指南提出了一种基于统计的方法，称为部件平均测试 (PAT)，用于从按照 AEC-Q100 和 AEC-Q101 提供的半导体中去除具有异常特性（异常值）的部件。 PAT 中使用的测试限制是根据具有独特设计和处理的特定部件的电气测试结果样本确定的。每个零件设计及其相关处理将显示每个测试要求的测试结果的独特分布，该数据是建立 PAT 限制的基础。本指南中描述的原则适用于封装或未封装芯片。有关 PAT 及其可能用于提供已知良好芯片的进一步讨论，请参见附录 1。

  1.1 目的

  本指南旨在提供去除异常零件的通用方法，从而提高按照 AEC-Q100 和 AEC-Q101 供应的零件的质量和可靠性。 PAT 和 AEC-Q002（统计产量分析）并不是一项要求。应用的确切方法可能与本指南中描述的不同，特别是如果分布是非正态的。可以在具有良好统计理由的情况下使用此类衍生方法。供应商应准备好证明所使用的统计方法的合理性。

  历史表明，具有异常特性的零件会显着导致质量和可靠性问题。使用这种技术还可以标记流程变化，并提供快速反馈的来源，以防止质量事故。

   

• 资料大小：
  160.93KB
• 所属类别：
  法规标准
• 更新日期：
  2021-09-10
• 适用行业：
  电子电气；机动车
• 上传人：
  Chennnn
• 标 签：

  零件平均测试

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