X射线光电子能谱是分析物质表面化学性质的一项技术。

2017/11/07 更新 分类：实验管理 分享

X射线光电子能谱技术是一种表面分析方法。

2016/01/05 更新 分类：实验管理 分享

本文介绍了先进材料表征方法，特点及应用领域，包括：X射线能谱分析（EDS），聚焦离子束分析（FIB），俄歇电子能谱分析（AES），X射线光电子能谱分析（XPS），动态二次离子质谱分析（D-SIMS）及飞行时间二次离子质谱分析（TOF-SIMS）。

2021/08/02 更新 分类：科研开发 分享

X射线光电子能谱技术（XPS）是电子材料 与元器件显微分析中的一种先进分析技术，而且是和 俄歇电子能谱 技术（AES）常常配合使用的分析技术。由于它可以比俄歇电子能谱技术更准确

2016/07/08 更新 分类：实验管理 分享

本文总结了十大失效分析技术:外观检查;X射线透视检查;切片分析;扫描声学显微镜;显微红外分析;扫描电子显微镜分析;X射线能谱分析;光电子能谱（XPS）分析；热分析差示扫描量热法及热机械分析仪（TMA），并附了案例分析。

2021/07/28 更新 分类：科研开发 分享

异物分析目前常见的分析手段有红外分析及SEM/EDS元素分析，除此之外行业内比较常用的还有X射线光电子能谱分析(XPS)， 俄歇电子能谱分析(AES)等。每种分析技术都有其特点，选择合适的分析方法才能解决问题。

2019/09/26 更新 分类：科研开发 分享