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检测项:等电平远端串音 检测样品:多模光纤 标准:《综合布线系统工程验收规范》 GB 50312-2007
检测项:等电平远端串音功率和 检测样品:多模光纤 标准:《综合布线系统工程验收规范》 GB 50312-2007
检测项:部分项目 检测样品:电视和声音信号电缆分配系统 标准:《电视和声音信号电缆分配系统 第2部分:设备的电磁兼容》 GB 13836-2000
机构所在地:山东省济南市 更多相关信息>>
检测项:超声探伤仪电噪声电平 检测样品:无损检测器材 标准:无损检测仪器 电磁轭磁粉探伤仪技术条件JB/T 7411-2012
检测项:超声探伤仪电噪声电平 检测样品:无损检测器材 标准:无损检测 A型脉冲反射式超声波探伤系统工作性能测试方法JB/T 9214-2010 A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件JB/T 10061-1999
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平电压 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3022
检测项:输出低电平电压 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G 方法3006.1
检测项:输入高电平电流 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3007.1
机构所在地:江苏省无锡市 更多相关信息>>
检测项:参考电平 检测样品:数字电影放映系统 标准:《数字电影流动放映系统技术要求和测量方法》GY/T 251-2011
检测项:发行母版声道参考电平 检测样品:数字电影放映系统 标准:《数字电影中档放映系统技术要求和测量方法》GY/T 256-2012
检测项:发行版声音参考电平 检测样品:数字电影放映系统 标准:《数字电影中档放映系统技术要求和测量方法》GY/T 256-2012
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输入低电平电压VIL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:热效率 检测样品:企业电平衡 标准:《评价企业合理用电技术导则》 GB/T 3485-199
检测项:能源利用率 检测样品:企业电平衡 标准:《评价企业合理用电技术导则》 GB/T 3485-199
检测项:用电量 检测样品:企业电平衡 标准:《评价企业合理用电技术导则》 GB/T 3485-199
机构所在地:吉林省长春市 更多相关信息>>
检测项:自动电平控制 检测样品:GSM直放站 标准:《 900/1800 MHzTDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》 YD/T 1337-2005
检测项:自动电平控制 检测样品:CDMA直放站 标准:《800MHz CDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》 YD/T 1241—2002
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输出逻辑电压电平 检测样品:电磁继电器 标准:GJB 1042A-2002 电磁继电器通用规范
检测项:输出高电平电压 检测样品:数字集成电路 标准:GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路
检测项:低电平负载切换寿命试验 检测样品:电子及电气元件 标准:《微电子器件试验方法》 GJB548B-2005
检测项:低电平 检测样品:塑封电磁继电器 标准:《塑封通用电磁继电器总规范》 GJB2449-1995
检测项:低电平 检测样品:混合和固体延时继电器 标准:《混合和固体延时继电器总规范》 GJB1513A-2009
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>