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检测项:元器件 检测样品:可编程序控制器 标准:可编程序控制器 第2部分:设备要求和测试GB/T 15969.2-2008 IEC 61131-2:2007
机构所在地:北京市
机构所在地:上海市
检测项:高低温循环冲击试验 检测样品:电子元器件 标准:GJB128A-1997《半导体分立器件试验方法》方法1031高温寿命
检测项:高低温循环冲击试验 检测样品:电子元器件 标准:GJB360B-2009《电子及电气元件试验方法》方法108高温寿命试验
检测项:密封性检查 检测样品:电子元器件 标准:GJB128A-1997《半导体分立器件试验方法》方法1051温度循环
机构所在地:江苏省连云港市
检测项:结构、零部件、元器件 检测样品:煤矿井下紧急闭锁开关 标准:煤矿井下紧急闭锁开关 MT/T 530-1995
机构所在地:辽宁省沈阳市