器具耦合器温升试验机检测实验

温针治疗设备

简介

温针治疗设备

简介

温针治疗设备产品描述：通常由主机（含加热装置和控温装置）和针具组成。通过加热装置对针具进行加热并作用于人体穴位或特定部位的设备。

温针治疗设备预期用途：用于温针治疗。

温针治疗设备品名举例：温针仪

温针治疗设备管理类别：Ⅱ

温针治疗设备相关标准
1、YY 0780-2018 电针治疗仪
2、YY/T 1666-2019 经络刺激仪

温针治疗设备相关检测项目：
1 . 基本输出脉冲波形《经络刺激仪： YY/T1666-2019》
2 . 意外造成过量输出的防护《经络刺激仪： YY/T1666-2019》
3 . 输出准确性《经络刺激仪： YY/T1666-2019》
4 . 强度显示《经络刺激仪： YY/T1666-2019》
5 . 输出指示《经络刺激仪： YY/T1666-2019》
6 . 治疗时间《经络刺激仪： YY/T1666-2019》
7 . 材料的生物相容性《经络刺激仪： YY/T1666-2019》
8 . 外观《经络刺激仪： YY/T1666-2019》
9 . 功能要求《经络刺激仪： YY/T1666-2019》
10 . 说明书要求《经络刺激仪： YY/T1666-2019》
11 . 电气安全《经络刺激仪： YY/T1666-2019》
12 . 电磁兼容性《经络刺激仪： YY/T1666-2019》
13 . 环境试验要求《经络刺激仪： YY/T1666-2019》

收起百科↑ 最近更新：2023年07月20日

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上海电气器具检验测试所

检测项：检测样品：标准：

检测项：检测样品：标准：

检测项：部分项目检测样品：电热毯、电热垫及类似柔性发热器具标准：家用和类似用途电器的安全电热毯、电热垫及类似柔性发热器具的特殊要求 GB4706.8-2008 IEC60335-2-17：2006

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上海戴维斯测试技术有限公司

检测项：压缩试验检测样品：标准：包装运输包装件基本试验第4部分：采用压力试验机进行的抗压和堆码试验方法 GB/T 4857.4-2008 IDT ISO 12048-1994

检测项：压缩试验检测样品：电工电子产品及包装标准：包装运输包装件基本试验第4部分：采用压力试验机进行的抗压和堆码试验方法 GB/T 4857.4-2008 ISO 12048-1994

检测项：温度变化检测样品：电工电子产品及包装标准：电工电子产品环境试验第2部分: 试验方法试验N: 温度变化 GB/T 2423.22-2002 IDT IEC 60068-2-14-1984

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麦可罗泰克（常州）产品服务有限公司

检测项：拉伸性能检测样品：塑料标准：塑料拉伸性能的测定第1部分：总则 GB/T 1040.1-2006 ISO 527-1:1993

检测项：拉伸性能检测样品：塑料标准：塑料拉伸性能的测定第2部分：模塑和挤塑塑料的试验条件 GB/T 1040.2-2006 ISO 527-2:1993

检测项：拉伸性能检测样品：塑料标准：塑料拉伸性能的测定第4部分：各向同性和正交各向异性纤维增强复合材料的试验条件 GB/T 1040.4-2006 ISO 527-4:1997

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柳州出入境检验检疫局检验检疫综合实验室

检测项：空箱抗压检测样品：瓦楞纸箱标准：包装运输包装件基本试验第4部分：采用压力试验机进行的抗压和堆码试验方法 GB/T4857.4-2008、出口商品运输包装瓦楞纸箱检验规程 SN/T 0262-1993

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西迪士质量检测技术服务（上海）有限公司东莞分公司

检测项：外底耐弯折性检测样品：鞋类标准：橡胶性能-耐磨性（滚筒式磨蚀试验机）的试验方法 ASTM D 5963-04 (R2010)

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中国北方车辆研究所测试中心

检测项：电磁兼容性检测样品：汽车标准：ISO11452-4：2011道路车辆—窄带辐射电磁能产生的电干扰的零部件测试方法—第4部分：线束激励法

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武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器标准：半导体分立器件和集成电路第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性 GB/T 15651.2-2003

检测项：工作电压VZ 检测样品：光电耦合器标准：半导体分立器件和集成电路第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性 GB/T 15651.2-2003

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器标准：半导体分立器件和集成电路第5-2部分：光电子器件基本额定值和特性 GB/T 15651.2-2003

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中国船舶重工集团公司第七二四研究所计量测试中心

检测项：反向电流检测样品：光电耦合器标准：GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分信号（包括开关）和调整二极管第Ⅳ章第1节1条第Ⅳ章第1节2条

检测项：集电极-发射极饱和电压检测样品：耦合器标准：GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分信号（包括开关）和调整二极管第Ⅳ章第1节1条第Ⅳ章第1节2条

检测项：反向电流检测样品：耦合器标准：GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分信号（包括开关）和调整二极管第Ⅳ章第1节1条第Ⅳ章第1节2条

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贵州航天计量测试技术研究所

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件》GB/T 15651-1995 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997

检测项：击穿电压V(BR) 检测样品：光电耦合器标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件》GB/T 15651-1995 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997

检测项：工作电压VZ 检测样品：光电耦合器标准：《半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件》GB/T 15651-1995 《半导体分立器件试验方法》GJB 128A-1997

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中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：集电极-发射极维持电压Vceo 检测样品：光电耦合器标准：GB／T4587-1994《半导体器件分立器件第7部分双极型晶体管》第Ⅳ章

检测项：集电极-基极击穿电压Vcbo 检测样品：光电耦合器标准：GB／T4587-1994《半导体器件分立器件第7部分双极型晶体管》第Ⅳ章

检测项：发射极-基极击穿电压Vebo 检测样品：光电耦合器标准：GB／T4587-1994《半导体器件分立器件第7部分双极型晶体管》第Ⅳ章

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