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检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:CMOS 电路测试 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
机构所在地:辽宁省沈阳市
检测项:显微结构 检测样品:固体材料 标准:层状结晶二硅酸钠试验方法 GB/T 19421-2008
检测项:显微结构 检测样品:固体材料 标准:分析型扫描电子显微镜方法通则JY/T010-1996
检测项:显微结构 检测样品:固体材料 标准:透射电子显微镜方法通则JY/T 011-1996
机构所在地:浙江省宁波市
检测项:服装结构及款式 检测样品:粉尘层 标准:《粉尘层电阻率测定方法》 GB/T 16427-1996
检测项:服装结构及款式 检测样品:粉尘层 标准:《粉尘层电阻率测定方法》 GB/T 16427-1996
检测项:X 、γ及中子外照射防护 检测样品:放射卫生防护 标准:含密封源仪表的放射卫生防护要求GBZ125-2009;
机构所在地:山东省青岛市
检测项:低倍组织 检验 检测样品:铁磁材料 标准:钢的低倍组织及缺陷酸蚀检验法 GB 226-1991 结构钢低倍组织缺陷评级图 GB/T 1979-2001
机构所在地:山西省太原市