复合材料中干固体绝缘材料耐电弧的检测

检测项：干固体绝缘材料耐电弧 检测样品：复合材料 标准：GB/T1411-2002/IEC61621:1997《干固体绝缘材料 耐高电压、小电流电弧放电的试验》

检测机构：玻璃钢制品质量检验中心 更多相关信息>>

信息技术设备中谐波电流的检测

检测项：谐波电流 检测样品：信息技术设备 标准：GB17625.1-2012 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)

检测机构：国家食品质量监督检验中心 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：备用消耗电流和备用消耗电流变化 检测样品：半导体集成电路模拟乘法器 标准：半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理　 GB/T14029-1992

检测项：反向漏电流 检测样品：电容 标准：电子设备用固定电容器 第1部分：总规范 GB/T2693-2001

检测项：电流调整率和电流稳定系数 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理　 GB/T4377-1996

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：备用消耗电流和备用消耗电流变化 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理　 GB/T 4377-1996

检测项：电流调整率和电流稳定系数 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理　 GB/T 4377-1996

检测项：输入高电平电流和输入低电平电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：备用消耗电流 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996 第

检测项：备用消耗电流变化 检测样品：二极管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法4011 、 方法4016

检测项：吸合电压 检测样品：电阻器 标准：电子设备用固定电阻器 第1部分：总规范 GB/T5729-2003

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：备用消耗电流 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件分立器件和集成电路 第2部分;整流二极管GB/T 4023-1997

检测项：备用消耗电流 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件分立器件和集成电路 第2部分;整流二极管GB/T 4023-1997

检测项：发射极—基极截止电流 检测样品：固定电感器 标准：电子设备用固定电感器_第2部分_分规范表面安装电感器 SJ/T 11287-2003

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：备用消耗电流ID 检测样品：半导体集成电路TTL电路、CMOS电路 标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》

检测项：备用消耗电流变化ΔID 检测样品：半导体集成电路TTL电路、CMOS电路 标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》

检测项：全项目 检测样品：电子产品接触电流 标准：GB/T 12113-2003 接触电流和保护导体电流的测量方法 IEC 60990:1999 接触电流和保护导体电流的测量方法

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：备用消耗电流 检测样品：电压 调整器 标准：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996 第4.1、4.2、4.7、4.10条

检测项：备用消耗电流变化 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995半导体器件Ⅳ章1.2条

检测项：备用消耗电流 检测样品：电压 调整器 标准：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996 第4.1、4.2、4.7、4.10条

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：消耗电流ID 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：消耗电流ID 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：漏电流 检测样品：固定电感器 标准：GB/T8554-1998 电子和通信设备用变压器和电感器测量方法及试验程序

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：消耗电流 检测样品：TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996

检测项：反射比 检测样品：固定电阻器 标准：电子设备用固定电阻器第一部分：总规范 GB/T 5729-2003

检测项：电阻值 检测样品：固定电阻器 标准：电子设备用固定电阻器第一部分：总规范 GB/T 5729-2003

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