河南平原光电有限公司环境模拟与可靠性试验中心

检测项：冲 击试 验 检测样品：原材料、元器件、零部件、光学仪器、电子仪器、微光类、军工、民用产品 标准：军用装备实验室环境试验方法 GJB150.18 A-2009

检测项：冲 击试 验 检测样品：原材料、元器件、零部件、光学仪器、电子仪器、微光类、军工、民用产品 标准：电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法207; 方法213

检测项：冲 击试 验 检测样品：原材料、元器件、零部件、光学仪器、电子仪器、微光类、军工、民用产品 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

机构所在地：河南省焦作市 更多相关信息>>

北京强度环境研究所

检测项：冲击试验 检测样品：机电设备及电子电工产品 标准：军用设备环境试验方法 冲击试验 GJB 150.18-1986

检测项：冲击试验 检测样品：机电设备及电子电工产品 标准：军用装备实验室环境试验方法 第18部分：冲击试验 GJB 150.18A-2009

检测项：冲击试验 检测样品：机电设备及电子电工产品 标准：舰船电子设备环境试验 颠震试验 GJB 4.8-1983

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

北京神州腾耀通信技术有限公司

检测项：振动试验 检测样品：电工电子产品（可靠性） 标准：电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc：振动（正弦） GB/T 2423.10-2008 IEC 60068-2-6-2007

检测项：振动试验 检测样品：电工电子产品（可靠性） 标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fh：宽带随机振动（数字控制）和导则 GB/T 2423.56－2006 IEC 60068-2-64-2008

检测项：比吸收率测试（SAR） 检测样品：通信设备（移动台电磁辐射测试SAR） 标准：人体头部暴露于无线通信设备产生的射频电磁场下的峰值空间平均比吸收率的测量方法 IEEE 1528-2003

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

森萨塔科技（常州）有限公司传感器技术中心实验室

检测项：振动试验 检测样品：电工电子产品 标准：《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc：振动（正弦）》 GB/T2423.10-2008 IEC 60068-2-6:1995

检测项：高温/振动 综合实验 检测样品：电工电子产品 标准：《电工电子产品环境试验 第二部分：试验方法 试验 Z/BFc：散热和非散热试验样品的高温/振动（正弦）综合试验》 GB/T 2423.36 -2005 IEC 60068-2-51: 1983

机构所在地：江苏省常州市 更多相关信息>>

太原航空仪表有限公司工程测试中心

检测项：冲击 试验 检测样品：军用及民用电子产品、电气产品、机械产品 标准：军用装备实验室环境试验方法 第18部分：冲击试验 　 GJB150.18A-2009

检测项：加速度 试验 检测样品：军用及民用电子产品、电气产品、机械产品 标准：军用装备实验室环境试验方法 第15部分：加速度试验 GJB150.15A-2009

检测项：加速度 试验 检测样品：军用及民用电子产品、电气产品、机械产品 标准：军用设备环境试验方法 湿热试验　 GJB150.9-1986

机构所在地：山西省太原市 更多相关信息>>

国防科学技术大学可靠性实验室

检测项：碰撞试验 检测样品：军用 设备 电工 电子 产品 标准：GJB 360B—2009 电子及电气元件试验方法 方法207：强碰撞冲击试验 GB/T 2423.6—1995 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ed和导则：碰撞

检测项：碰撞试验 检测样品：军用设备电子电工产品 标准：GJB 360B—2009 电子及电气元件试验方法 方法207： 强碰撞冲击试验 GB/T 2423.6—1995 电工电子产品环境试验 第2部分： 试验方法 试验Ed和导则：碰撞GB/T 2423.22-2012 电工电子产品环境

检测项：冲击试验 检测样品：军用 设备 电工 电子 产品 标准：GJB150.18A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第18部分：冲击试验 程序ⅠⅡⅢⅣⅤⅥ GB/T2423.5-1995 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ea和导则：冲击

机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>

上海半导体照明工程技术研究中心检测实验室

检测项：正弦振动 检测样品：电工电子产品 标准：GB/T 2423.10-2008 IEC 60068-2-6: 1995 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 Fc：振动（正弦）

检测项：随机振动 检测样品： 标准：GB/T 2423.56-2006 IEC 60068-2-64: 1993电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Fh：宽带随机振动 (数字控制) 和导则

检测项：峰值波长(峰值发射波长) 检测样品：普通照明用LED模块 标准：GB/T 24824-2009 普通照明用LED模块测试方法

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

威胜集团有限公司测试中心

检测项：冲击试验 检测样品：电能表 标准：① 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ea和导则：冲击 GB/T 2423.5-1995 ② 交流电测量设备 通用要求、试验和试验条件 第11部分: 测量设备 GB/T 17215.211-2006/ IEC 62052-11:2003

检测项：冲击试验 检测样品：电力用户用电信息采集系统 标准：① 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ea和导则：冲击 GB/T 2423.5-1995 ② 交流电测量设备 通用要求、试验和试验条件 第11部分: 测量设备 GB/T 17215.211-2006/IEC 62052-11:2003

检测项：冲击试验 检测样品：电力用户用电信息采集系统 标准：① 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ea和导则：冲击 GB/T 2423.5-1995 ② 交流电测量设备 通用要求、试验和试验条件 第11部分: 测量设备 GB/T 17215.211-2006/IEC 62052-11:2003

机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>

中国科学院半导体研究所元器件检测中心

检测项：冲击 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准：电工电子产品环境试验 第2部分试验方法试验Ea和导则：冲击；GB/T 2423.5-1995

检测项：恒定加速试验 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准：半导体分立器件试验方法 方法2006 恒定加速度 GJB128A-1997

检测项：耐腐蚀试验 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准：电子及电气元件试验方法 方法212稳态加速度试验 GJB360B-2009

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

西安电力电子技术研究所电力电子实验室

检测项：门极正向峰值功率/峰值电流/峰值电压 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994

检测项：反向重复/不重复峰值电压 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994

检测项：断态重复/不重复峰值电压 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>