开环性能（增益，带宽，失真，动态范围）检测实验

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range) 熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。熔点测试方法：毛细管法 ...查看详情>>

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range)

熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。

熔点测试方法：毛细管法

熔点测试仪器：

检测项目

熔点范围
熔点

收起百科↑ 最近更新：2017年03月13日

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北京无线电计量测试研究所

检测项：微分增益失真检测样品：C波段卫星电视接收天线标准：卫星电视地球接收站通用技术条件 GB/T11442-1995 卫星电视地球接收站测量方法天线测量 GB/T11298.2-1997

检测项：动态范围检测样品：微波频率计标准：微波频率计通用规范 SJ20585-1996

检测项：失真检测样品：低失真源标准：低频信号发生器通用测试方法 GB12180-1990

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中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：开环电压增益检测样品：电压比较器、运算放大器标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路》GB/T17940-2000

检测项：群时延检测样品：微波组件标准：《微波元器件性能测试方法》GJB2650-1996

检测项：电压驻波比检测样品：微波组件标准：《微波元器件性能测试方法》GJB2650-1996

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中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：开环电压增益检测样品：时基电路标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条

检测项：开环电压增益检测样品：时基电路标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条

检测项：开环电压增益检测样品：电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T6798-1996 第4.1、4.3、4.5、4.7、4.8、4.9、4.11、4.13、4.14、4.15、4.16条

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中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：开环电压增益AVO 检测样品：半导体集成电路（运算放大器、电压比较器）标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件集成电路第1部分总则

检测项：开环电压增益AVO 检测样品：半导体集成电路（运算放大器、电压比较器）标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件集成电路第1部分总则

检测项：增益控制范围检测样品：微电路模块标准：1、SJ 20668-1998 微电路模块总规范 2、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法

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中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：开环电压增益检测样品：模拟集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：开环电压增益检测样品：模拟集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：增益误差检测样品：光电耦合器标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件第5部分光电子器件

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中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：开环电压增益检测样品：模拟/混合集成电路标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路第3部分模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：增益误差EG 检测样品：混合集成电路A/D、D/A变换器标准：SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理

检测项：共摸输入电压范围VIC 检测样品：混合集成电路A/D、D/A变换器标准：SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理

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北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路（稳压器）标准：1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路（运算放大器）标准：1.SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件

检测项：稳压管动态电阻rz 检测样品：双极型晶体管标准：GB/T4587-1994半导体分立器件和集成电路第七部分：双极型晶体管

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四川省无线电监测站

检测项：增益和时隙增益调节范围检测样品：WCDMA数字蜂窝通信系统直放机标准：YD/T 1554-2007 2GHz WCDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法

检测项：接收机灵敏度和动态范围特性检测样品：CDMA数字移动台标准：YDC 015-2006 《800MHz CDMA1X数字蜂窝移动通信网设备技术要求：移动台》 YDC 023-2006 《800MHz CDMA1X数字蜂窝移动通信网设备测试方法：移动台第一部分基本无线指标、功能和性能》》

检测项：增益调节范围检测样品：微功率无线电设备标准：信部无[2005]423号　　《关于发布《微功率（短距离）无线电设备的技术要求》的通知》

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深圳市北测检测技术有限公司

检测项：调制带宽检测样品：25MHz至1GHz短距离无线发射设备标准：电磁兼容性和射频频谱问题（ERM）；射频设备和服务的电磁兼容性（EMC）标准；第3部分：9kHz到40GHz范围的短距离设备的EMC性能特殊要求 ETSI EN 301 489-3 V1.4.1 (2002-08) 电磁兼容性和射频频谱问题（ERM）

检测项：发射占用带宽检测样品：GSM移动手机通信设备标准：公共流动无线电话服务（PMRS）使用全球移动通信（GSM）和/或个人通讯服务系统的使用的移动台和便携式设备的性能规格（PCS） HKTA 1033 ISSUE 7 MARCH 2012

检测项：发射占用带宽检测样品：GSM移动手机通信设备标准：FCC PART 2:2010 频率分配和射频条款:通用规章制度

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中讯邮电咨询设计院有限公司通信电源实验室

检测项：动态电压瞬变范围检测样品：通信用交流不间断电源设备标准：YD/T 1095-2008 通信用不间断电源—UPS YD/T 1051-2010 通信局（站）电源系统总技术要求 GB/T 7260.3-2003 不间断电源设备（UPS）第3部分：确定性能的方法和实验要求 GB/T 14715-1993 信息

检测项：动态电压瞬变范围检测样品：通信用交流不间断电源设备标准：YD/T 1095-2008 通信用不间断电源—UPS YD/T 1051-2010 通信局（站）电源系统总技术要求 GB/T 7260.3-2003 不间断电源设备（UPS）第3部分：确定性能的方法和实验要求 GB/T 14715-1993 信息

检测项：电压动态瞬变范围检测样品：通信用模块化不间断电源标准：YD/T 2165-2010 通信用模块化不间断电源

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