武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：开环电压增益 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

检测项：开环电压增益 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入失调电压 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：差模开环电压增益AVD 检测样品：A/D 、D/A转换器 标准：《半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法》 SJ/T 10818-1996

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：模拟开关 标准：《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》GB/T 14028-1992

检测项：开环电压增益（误差放大器）AVD 检测样品：脉宽调制器 标准：《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：开环电压增益 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

检测项：开环电压增益 检测样品：电子元器件 标准：微电路试验方法和程序GJB 548B-2005

检测项：门极触发电压 检测样品：三端稳压电源（电压调整器） 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

云南昆船电子设备有限公司蓝海综合实验中心

检测项：开环电压增益 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：集电极-基极击穿电压 检测样品：半导体集成运算放大器 标准：SJ/T 10738-1996 半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理

检测项：输入失调电压 检测样品：半导体集成运算放大器 标准：SJ/T 10738-1996 半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理

机构所在地：云南省昆明市 更多相关信息>>

国营长风机器厂环境试验检测计量中心

检测项：开环电压增益 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

检测项：集电极-基极击穿电压, 发射极-基极击穿电压 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件分立器件第2部分整流二极管 GB/T6571-1995

检测项：输入失调电压 检测样品：集成运放 电路 标准：可靠性鉴定和验收试验GJB899-2009

机构所在地：甘肃省兰州市 更多相关信息>>

上海无线电设备研究所环境与检测实验室

检测项：开环电压增益 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

检测项：输入箝位电压 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

检测项：输入失调电压 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

湖南航天管理局计量检测中心

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：三端稳压电源（电压调整器） 标准：GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：开环电压增益 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：开环电压增益 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》

检测项：开环电压增益 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：开环电压增益 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

检测项：V/F增益误差 检测样品：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理　GB/T14114-1993

检测项：V/F增益误差温度系数 检测样品：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理　GB/T14114-1993

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：开环电压增益 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T4377-1996 《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》 GB/T 14028-1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

检测项：输入正向阈值电压VIT+ 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：输入负向阈值电压VIT 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>