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棘突植入物产品描述:通常由单个或多个部件组成。一般采用钛合金等材料制成。该产品可用于在腰椎棘突间施加一定的撑开力,限制腰椎过度后伸。 棘突植入物预期用途:用于维持腰椎活动节段棘突间的稳定。 棘突植入物品名举例:棘突间植入物 棘突植入物管理类别:Ⅲ 棘突植入物相关指导原则: 1、3D打印人工椎体注册技术审查指导原则 2、增材制...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年04月03日
检测项:“含密封 源仪表“的放射卫生防护性能检测 检测样品:电离及电磁辐 射环境 标准:《含密封源仪表的放射卫生防护要求》GBZ125-2009
检测项:“含密封 源仪表“的放射卫生防护性能检测 检测样品:电离及电磁辐 射环境 标准:含密封源仪表的放射卫生防护要求 GBZ125-2009
检测项:“含密封 源仪表“的放射卫生防护性能检测 检测样品:电离及电磁辐 射环境 标准:《便携式X射线安全检查设备通用规范》GB12664-2003
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:漏--源短路时的栅极截止电流IGSS 检测样品:晶体二极管 标准:GB4589.1-1989《半导体器件分立器件和集成电路总规范》
检测项:漏--源断态电阻RDSon 检测样品:晶体二极管 标准:GB4589.1-1989《半导体器件分立器件和集成电路总规范》
检测项:截止态漏级漏电流 ID(off) 检测样品:模拟集成电路 标准:GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》
检测项:漏-源击穿电压 检测样品:晶闸管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407
检测项:静态漏-源通态电阻 检测样品:场效应 晶体管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407
检测项:静态漏-源通态电压 检测样品:场效应 晶体管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:漏源极截止电流IDSS 检测样品:晶体振荡器 标准:《晶体振荡器总规范》GJB 1648-1993
检测项:静态漏-源通态电阻rDS 检测样品:晶体振荡器 标准:《晶体振荡器总规范》GJB 1648-1993
检测项:漏源击穿电压V(BR)DSS 检测样品:晶体振荡器 标准:《晶体振荡器总规范》GJB 1648-1993
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:栅源短路时的漏极电流 检测样品:晶体管 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T4587-1994
检测项:反向击穿电压 检测样品:晶体管 标准:半导体器件分立器件 第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-1994
检测项:截止态漏极漏电流ID(off) 检测样品:脉宽调制器 标准:半导体集成电路开关电源脉宽调制器测试方法 QJ2660-1994
检测项:静态漏-源通态电阻RDS(on) 检测样品:半导体集成电路时基电路 标准:GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项:漏-源击穿电压V(BR)DSS 检测样品:半导体集成电路时基电路 标准:GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:γ射线漏射线检测 检测样品: 标准:含密封源仪表的放射卫生防护要求GBZ 125—2009
检测项:X射线漏射线检测 检测样品:放射卫生检测 标准:医用X射线诊断卫生防护监测规范GBZ 138—2002
检测项:γ射线漏射线检测 检测样品: 标准:X射线衍射仪和荧光分析仪防护标准GBZ 115—2002
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:漏源通态电流 检测样品:晶闸管 标准:半导体器件 第6部分晶闸管 GB/T 15291-1994
检测项:漏源通态电阻 检测样品:晶闸管 标准:半导体器件 第6部分晶闸管 GB/T 15291-1994
检测项:漏源击穿电压 检测样品:晶闸管 标准:半导体器件 第6部分晶闸管 GB/T 15291-1994
检测项:漏点 检测样品:涂层(漆膜) 标准:钢质管道聚乙烯胶粘带防腐层技术标准SY/T 0414-2007 7.5
检测项:漏点 检测样品:涂层(漆膜) 标准:非腐蚀性气体输送用管线管内涂层SY/T 6530-2010 附录C
检测项:漏点 检测样品:涂层(漆膜) 标准:压敏胶粘带180°剥离强度试验方法GB/T 2792-1998
机构所在地:河北省廊坊市 更多相关信息>>
检测项:漏-源通态电流 检测样品:晶闸管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407
检测项:漏-源通态电阻 检测样品:晶闸管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407
检测项:漏-源通态电压 检测样品:晶闸管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>