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检测项:导电类型 检测样品: 标准:GB/T 1550-1997非本征半导体材料导电类型测试方法
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检测项:B,P,Al,Sb,Ga,As 检测样品: 标准:GB/T 24581-2009低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中Ⅲ、Ⅴ族杂质含量的标准方法
机构所在地:青海省西宁市
检测项:印刷方法的鉴别 检测样品:印刷文件 标准:《印刷方法的鉴别》 IFSC 09-03-01-2006
检测项:紫外照相 检测样品: 标准:《紫外照相方法规则》 GA/T 584-2005
机构所在地:湖南省长沙市