芯片失效检测实验

生物芯片分析仪器

简介

生物芯片分析仪器

简介

生物芯片分析仪器产品描述：通常由主机模块、光电信号采集器模块、计算机系统等组成。原理一般为采集生物芯片上的光、电信号，通过软件进行分析。

生物芯片分析仪器预期用途：用于临床实验室对多种医学检测项目进行定性、半定量或定量检测。

生物芯片分析仪器品名举例：生物免疫层析芯片检测仪、生物芯片反应仪、压电蛋白芯片分析仪、人乳头瘤病毒（HPV）分型基因芯片检测阅读系统、生物芯片阅读仪、微阵列芯片检测仪、微阵列芯片扫描仪、基因芯片阅读仪、基因杂交信号扩大仪

生物芯片分析仪器管理类别：Ⅱ

生物芯片分析仪器相关标准：
1、YY/T 0692-2008 生物芯片基本术语
2、YY/T 1152-2009 生物芯片用醛基基片

收起百科↑ 最近更新：2023年08月31日

搜索条件所在地区: 所属类别:

北京通和实益电信科学技术研究所有限公司威尔克通信实验室

检测项：全部项目检测样品：无线POS终端标准：YD/T 1886-2009 移动终端芯片安全技术要求和测试方法

机构所在地：北京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
湖北出入境检验检疫局检验检疫技术中心（湖北中检检测有限公司）

检测项：传染性胃肠炎检测样品：动物检疫标准：国质检动（2009）178号 A型流感病毒分型基因芯片检测方法

检测项：猪甲型H1N1流感检测样品：植物及其产品标准：国质检动（2009）178号 A型流感病毒分型基因芯片检测方法

机构所在地：湖北省武汉市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国工程物理研究院计量测试中心

检测项：芯片粘接的超声检测检测样品：密封半导体集成电路标准：GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法》

检测项：扫描电子显微镜(SEM)检查检测样品：混合集成电路(含多芯片组件) 标准：GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法》

检测项：剪切强度检测样品：混合集成电路(含多芯片组件) 标准：GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法》

机构所在地：四川省绵阳市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
北京市海淀区产品质量监督检验所

检测项：外源蛋白* 检测样品：转基因产品标准：转基因产品检测（基因芯片）检测方法GB/T19495.6-2004

检测项：外源蛋白* 检测样品：转基因产品标准：转基因产品检测（基因芯片）检测方法GB/T19495.6-2004

机构所在地：北京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：芯片附着强度检测样品：电子元器件标准：半导体器件机械和气候试验方法GB/T4937-1995 第Ⅱ篇第6条

检测项：芯片附着强度检测样品：电子元器件标准：半导体分立器件试验方法　GJB128A-1997 方法2037

检测项：芯片附着强度检测样品：电子元器件标准：引线键合剪切测试方法EIA/JESD22-B116A-2009

机构所在地：江苏省无锡市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
华东光电集成器件研究所计量测试中心

检测项：芯片附着强度检测样品：电子元器件标准：电工电子产品环境试验　GB/T2423.23-1995试验 Qk

检测项：芯片附着强度检测样品：电子元器件标准：半导体分立器件试验方法　GJB128A-1997方法1071

检测项：芯片附着强度检测样品：电子元器件标准：微电子器件试验方法和程序　 GJB548A-1996方法2019A

机构所在地：安徽省蚌埠市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
泰克科技（苏州）有限公司检测中心

检测项：CymMV、ORSV、CaCV、CMV四种病毒的阴性和阳性判断检测样品：蝴蝶兰标准：《蝴蝶兰病毒生物芯片检测方法》Q/320507 LBK08-2012

机构所在地：江苏省苏州市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司中心实验室

检测项：鉴定试验检测样品：元器件破坏性物理分析标准：1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半导体分立器件失效分析方法和程序》

检测项：质量一致性试验检测样品：元器件破坏性物理分析标准：1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半导体分立器件失效分析方法和程序》

检测项：部分项目检测样品：元器件破坏性物理分析标准：1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半导体分立器件失效分析方法和程序》

机构所在地：北京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：可靠性试验检测样品：电工电子产品标准：GB/5080.7-86设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案

机构所在地：湖北省宜昌市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
上海仪器仪表自控系统检验测试所

检测项：静电放电抗扰度试验检测样品：信息技术设备；家用电器；电信设备；声音和电视广播设备；工科医设备；照明灯具和其它电子设备标准：系统可靠性分析技术失效模式和效应分析(FMEA)程序 GB/T 7826-1987

机构所在地：上海市更多相关信息>>

我要咨询联系我们

生物芯片分析仪器

简介

生物芯片分析仪器

简介

北京通和实益电信科学技术研究所有限公司威尔克通信实验室

湖北出入境检验检疫局检验检疫技术中心（湖北中检检测有限公司）

中国工程物理研究院计量测试中心

北京市海淀区产品质量监督检验所

中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

华东光电集成器件研究所计量测试中心

泰克科技（苏州）有限公司检测中心

北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司中心实验室

宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

上海仪器仪表自控系统检验测试所

热点资讯MORE>

最新资讯MORE>

客户服务