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检测项:密封性试验 检测样品:半导体分立器件失效分析 标准:GJB 3157-1998 半导体分立器件失效分析方法和程序
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机构所在地:河北省石家庄市
检测项:密封性试验 检测样品:光缆分纤箱 标准:光缆分纤箱 YD/T2150-2010
检测项:密封性试验 检测样品:光缆分纤箱 标准:光缆分纤箱 YD/T2150-2010
检测项:箱体密封性能 检测样品:电缆分线盒 标准:通信电缆分线盒 YD/T 740-1995
机构所在地:北京市