输入动态范围和差模偏置电压检测实验

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range) 熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。熔点测试方法：毛细管法 ...查看详情>>

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range)

熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。

熔点测试方法：毛细管法

熔点测试仪器：

检测项目

熔点范围
熔点

收起百科↑ 最近更新：2017年03月13日

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：输入偏置电流检测样品：电子元器件标准：微电路试验方法和程序GJB 548B-2005

检测项：输入偏置电流检测样品：时基电路标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

检测项：稳压管动态电阻检测样品：二极管标准：半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995 分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997

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中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：输入偏置电流IIB 检测样品：晶体三极管标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

检测项：共模输入电压Vicm 检测样品：模拟/混合集成电路标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路第3部分模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：共摸输入电压范围VIC 检测样品：混合集成电路A/D、D/A变换器标准：SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理

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西安东风仪表厂可靠性试验检测中心

检测项：输入偏置电流检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996

检测项：输入偏置电流检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996

检测项：输入偏置电流检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996

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中国船舶重工集团公司第七一五研究所校准/检测实验室

检测项：前置予处理机输入动态范围检测样品：声纳设备标准：声纳通用规范 GJB22A-1999

检测项：测量频率的均方根误差及测量范围；测量脉冲宽度的均方根误差及测量范围；测量重复周期的均方根误差及测量范围检测样品：电子电工产品标准：声纳通用规范 GJB22A-2011

检测项：前置予处理机等效输入端本机噪声检测样品：声纳设备标准：声纳通用规范 GJB22A-1999

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电信科学技术第一研究所泰峰通信实验室

检测项：射频输入动态范围检测样品：无线电台站电磁环境标准：微波接力站电磁环境保护要求 GB 13616-2009

检测项：输入、输出电压驻波比检测样品：直放站标准：800MHz/2GHz CDMA数字蜂窝移动通信网模拟直放站技术要求和测试方法 YD/T 1596-2011

检测项：输入/输出电压驻波比检测样品：直放站标准：2GHz WCDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法 YD/T 1554-2007

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南京市产品质量监督检验院

检测项：部分参数检测样品：信息技术设备用不间断电源标准：《信息技术设备用不间断电源通用技术条件》 GB/T 14715-1993

检测项：部分参数检测样品：照明节电装置标准：《照明节电装置及应用技术条件》 GB/T 25959-2010

检测项：部分参数检测样品：继电保护和安全自动装置标准：《继电保护和安全自动装置通用技术条件》 DL/T 478-2010

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中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：输入偏置电流检测样品：模拟集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：输入偏置电流检测样品：模拟集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：输入阈值电压和滞后电压检测样品：模拟集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

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中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输入偏置电流检测样品：电压比较器、运算放大器标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路》GB/T17940-2000

检测项：输入二极管正向电压检测样品：双极型晶体管标准：《半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管》GB/T4587-1994

检测项：共模抑制比检测样品：电压比较器、运算放大器标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路》GB/T17940-2000

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中讯邮电咨询设计院有限公司通信电源实验室

检测项：动态电压瞬变范围检测样品：通信用交流不间断电源设备标准：YD/T 1095-2008 通信用不间断电源—UPS YD/T 1051-2010 通信局（站）电源系统总技术要求 GB/T 7260.3-2003 不间断电源设备（UPS）第3部分：确定性能的方法和实验要求 GB/T 14715-1993 信息

检测项：动态电压瞬变范围检测样品：通信用交流不间断电源设备标准：YD/T 1095-2008 通信用不间断电源—UPS YD/T 1051-2010 通信局（站）电源系统总技术要求 GB/T 7260.3-2003 不间断电源设备（UPS）第3部分：确定性能的方法和实验要求 GB/T 14715-1993 信息

检测项：电压动态瞬变范围检测样品：通信用模块化不间断电源标准：YD/T 2165-2010 通信用模块化不间断电源

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北京振兴计量测试研究所

检测项：输入偏置电流IIB 检测样品：A/D、D/A转换器标准：半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T10818-1996

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：A/D、D/A转换器标准：半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T10818-1996

检测项：门极电压检测样品：晶闸管标准：半导体器件第6部分晶闸管 GB/T15291-1994

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