官方微信
您当前的位置:首页 > 输入过电压告警
检测项:输入功率 检测样品:医用电气设备 标准:医用电气设备-第1部分:基本安全要求 IEC60601-1:1988+A1:1991+A2:1995 EN 60601-1:1990+A1:1993+A2:1995 UL60601-1-2003 R6.03
机构所在地:天津市 更多相关信息>>
检测项:部分项目 检测样品:额定电流不大于16A的电气设备 标准:低压电器及电子设备发出的谐波电流限值(设备每相输入电流 ≦16A) GB 17625.1-2003 IEC 61000-3-2:2005+A1:2008+A2:2009 EN 61000-3-2:2006+A1:2009+A2:2009
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:输入功率 检测样品:家用和类似用途电器 标准:家用和类似用途电器的安全 第一部分:通用要求 GB 4706.1-2005 家用和类似用途电器的安全 液体加热器的特殊要求 GB 4706.19-2008 家用和类似用途电器的安全 风扇的特殊要求 GB 4706.27-2008
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:互换性 检测样品:照明设备(普通照明用自镇流荧光灯、LED灯及灯具) 标准:GB 17625.1-2003 IEC 61000-3-2:2005+A1:2008+A2:2009 EN 61000-3-2:2006+A1:2009+A2:2009 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)
检测项:意外接触带电部件的防护 检测样品:照明设备(普通照明用自镇流荧光灯、LED灯及灯具) 标准:GB 17625.1-2003 IEC 61000-3-2:2005+A1:2008+A2:2009 EN 61000-3-2:2006+A1:2009+A2:2009 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)
检测项:潮湿处理后的绝缘电阻和介电强度 检测样品:照明设备(普通照明用自镇流荧光灯、LED灯及灯具) 标准:GB 17625.1-2003 IEC 61000-3-2:2005+A1:2008+A2:2009 EN 61000-3-2:2006+A1:2009+A2:2009 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)
机构所在地:福建省厦门市 更多相关信息>>
检测项:辐射骚扰 检测样品:电子电器设备(额定电流不大于16A) 标准:电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB 17625.1-2003 IEC 61000-3-2:2005+ A1:2008+A2:2009 EN 61000-3-2:2006+ A1:2009+A2:2009 AS/NZ
检测项:谐波电流 检测样品:电子电器设备(额定电流不大于16A) 标准:电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB 17625.1-2003 IEC 61000-3-2:2005+ A1:2008+A2:2009 EN 61000-3-2:2006+ A1:2009+A2:2009 AS/NZ
检测项:谐波发射限值 检测样品:信息技术 设备 标准:GB 17625.1-2003 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)
检测项:谐波发射限值 检测样品:信息技术 设备 标准:GB 17625.1-2012 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)
检测项:部分项目 检测样品:电气设备(电磁兼容) 标准:电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB 17625.1-2003; IEC61000-3-2 :2009; EN61000-3-2:2006+A1:2009+A2:2009 AS/NZS 61000.3.2:2007/Amdt
检测项:部分项目 检测样品:电气设备(电磁兼容) 标准:电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB 17625.1-2003; GB 17625.1-2012; IEC61000-3-2 :2009; EN61000-3-2:2006+A1:2009+A2:2009 AS/NZS 610
机构所在地:安徽省滁州市 更多相关信息>>
检测项:谐波电流 检测样品:电气电子设备 标准:谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) IEC 61000-3-2:2005(ed.3)+A1:2008+A2:2009 EN 61000-3-2:2006+A1:2009+A2:2009
检测项:输入高电平 检测样品:集成电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
检测项:输入箝位电压 检测样品:集成电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输入功率和电流 检测样品:家用和类似用途设备 标准:家用和类似用途设备的安全 第1部分:通用要求 IEC 60335-1:2010 EN 60335-1:2012 GB 4706.1-2005