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检测项:外观和结构检查 检测样品:**集成电路(IC)卡读写机 标准:《集成电路(IC)卡读写机通用规范》GB/T18239-2000
机构所在地:北京市
检测项:外观与结构 检测样品:光缆分纤箱 标准:光缆分纤箱 YD/T2150-2010
检测项:外观与结构 检测样品:光纤配线架 标准:光纤配线架 YD/T 778-2011
检测项:外观 检测样品:室外光缆接头盒 标准:光缆接头盒第一部分:室外光缆接头盒 YD/T 814.1-2004
机构所在地:北京市