武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：输入低电平电压 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入高电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入低电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第三十六研究所计量测试中心

检测项：输入电平适应性 检测样品：干扰激励器 标准：GJB 3093-1997 通信干扰激励器通用规范

检测项：反向辐射电平 检测样品：数字式搜索 接收机 标准：GJB 4268-2001 通信对抗数字式搜索接收机通用规范

检测项：反向辐射电平 检测样品：功率放大器 标准：GJB3258-1998 功率放大器通用规范

机构所在地：浙江省嘉兴市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：输入高电平电压VIH 检测样品：数字集成电路 标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：数字集成电路 标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：输入电平适应范围 检测样品：微波器件 标准：GJB2650-1996微波元器件性能测试方法

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：输入阈值电平电压VT(I) 检测样品：DC/DC电源模块 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

检测项：输入电流 检测样品： 标准：

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：DC/DC电源模块 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入高电平电压VIH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

国家无线电频谱管理研究所无线电设备检测实验室

检测项：最大允许 输入电平 检测样品：GSM移动通信直放机 标准：《900MHz/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》YD/T 1337- 2005

检测项：静态参考灵敏度电平 检测样品：GSM移动通信直放机 标准：《900MHz/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》YD/T 1337- 2005

检测项：多径参考灵敏度电平 检测样品：GSM移动通信直放机 标准：《900MHz/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》YD/T 1337- 2005

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：输入高电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入低电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入高电平电压 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：输入高电平电压 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3022

检测项：输入高电平电流 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3007.1

检测项：输入低电平电流 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3010.1

机构所在地：江苏省无锡市 更多相关信息>>