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检测项:开环电压增益AVD 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》
检测项:形位误差 检测样品:机械零、部件 标准:GB/T1958-2004 《产品几何量技术规范(GPS)形状和位置公差检测规定》
机构所在地:湖北省武汉市
检测项:增益限制的有效频率范围 检测样品:声频功率放大器 标准:SJ/T 10406-1993 声频功率放大器通用技术条件 GB/T 9001-1988 声频放大器测量方法
机构所在地:广东省广州市