官方微信
您当前的位置:首页 > ADC增益误差
检测项:开环电压增益 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项:部分项目 检测样品:音频设备 标准:IEEE Std 149-1979 (R2008)天线测试标准
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:天线增益 检测样品:移动通信天线 标准:移动通信天线通用技术规范 GB/T 9410-2008
检测项:天线增益 检测样品:天线 标准:IEEE天线测试标准流程 ANSI/IEEE Std 149-1979
检测项:增益 检测样品:直放站 标准:800MHz/2GHz CDMA数字蜂窝移动通信网模拟直放站技术要求和测试方法 YD/T 1596-2011
检测项:增益 检测样品:直放站 标准:900MHz/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网数字直放站技术要求和测试方法 YD/T 2355-2011
检测项:频率误差 检测样品:直放站 标准:800MHz/2GHz CDMA数字蜂窝移动通信网模拟直放站技术要求和测试方法 YD/T 1596-2011
机构所在地:浙江省杭州市 更多相关信息>>
检测项:开环电压增益 检测样品:电压比较器 标准:SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项:增益 检测样品:电磁继电器 标准:GJB65B-1999有可靠性指标的电磁继电器总规范
检测项:开环电压增益 检测样品:运算放大器 标准:SJ/T10738-1996半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:开环电压增益 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T6798-1996
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:开环电压增益 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:开环电压增益 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:开环电压增益AVD 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:开环电压增益AVD 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算(电压) 放大器测试方法的基本原理
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:增益 检测样品:射频同轴连接器 标准:GB/T 16850-1997 光纤放大器基本试验方法
检测项:增益斜率 检测样品:射频同轴连接器 标准:YD/T 640-2012 通信设备用射频连接器技术要求及检测方法
检测项:向量矢量误差 (EVM) 检测样品:WLAN设备 标准:IEEE802.11n无线局域网媒体访问控制(MAC)和物理层(PHY)规范.增强到更高的吞吐量
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>