江西省陶瓷检测中心

检测项：容积 检测样品：日用陶瓷 标准：《日用陶瓷的容积、口径误差、高度误差、重量误差、缺陷尺寸的测定方法》GB/T3301-1999

检测项：容积 检测样品：日用陶瓷 标准：日用陶瓷的容积、口径误差、高度误差、重量误差、缺陷尺寸的测定方法 GB/T3301-1999

检测项：口径误差 检测样品：日用陶瓷 标准：《日用陶瓷器吸水率测定方法》GB/T3299-2011

机构所在地：江西省景德镇市 更多相关信息>>

颛泓（上海）测试技术服务有限公司

检测项：吸水率 检测样品：食品接触材料 标准：日用陶瓷的容积、口径误差、高度误差、重量误差、缺陷尺寸的测定方法 GB/T 3301-1999

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第21研究所微特电机产品质量监督检验中心

检测项：圆度误差 检测样品：机械、电气产品 标准：产品几何量技术规范（GPS）形状和位置公差 检测规定 GB/T1958-2004

检测项：圆度误差 检测样品：军用及民用电子产品、电气产品、机械产品 标准：产品几何量技术规范（GPS）形状和位置公差 检测规定GB/T1958-2004

检测项：位置误差 检测样品：磁阻式步进电动机 标准：磁阻式步进电动机通用技术条件JB/T10596-2006

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输入失调电流 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：输入失调电压 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：输入失调电流 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：失调电压Vos 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T4377-1996 《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》 GB/T 14028-1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

检测项：失调电流Ios 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：线性误差EL 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T14029-1992 《半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：A/D、D/A转换器 标准：半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T10818-1996

检测项：输入失调电流IIO 检测样品：A/D、D/A转换器 标准：半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T10818-1996

检测项：失调Eo 检测样品：A/D、D/A转换器 标准：半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T10818-1996

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：输入失调电流 检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备 标准：电工电子产品环境试验 第2部分： 试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

检测项：输入失调电压 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988

检测项：输入失调电压 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：输入失调电压(VOS) 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000

检测项：输入失调电流(IOS) 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

湖南航天管理局计量检测中心

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压） 放大器测试方法的基本原理

检测项：输入失调电流IIO 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压） 放大器测试方法的基本原理

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>

西安东风仪表厂可靠性试验检测中心

检测项：输入失调电压 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996

检测项：输入失调电流 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996

检测项：输入失调电压 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996

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