半导体器件中QE-01 热冲击试验（TST）的检测

检测项：QE-01 热冲击试验（TST） 检测样品：半导体器件 标准：半导体器件 - 机械和气候测试方法 - 第 25 部分：温度循环 IEC 60749-25:2003

检测机构：国家电子电器产品检测中心 更多相关信息>>