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机构所在地:北京市
检测项:高低温循环冲击试验 检测样品:电子元器件 标准:GJB128A-1997《半导体分立器件试验方法》方法1031高温寿命
检测项:高低温循环冲击试验 检测样品:电子元器件 标准:GJB360B-2009《电子及电气元件试验方法》方法108高温寿命试验
检测项:密封性检查 检测样品:电子元器件 标准:GJB128A-1997《半导体分立器件试验方法》方法1051温度循环
机构所在地:江苏省连云港市
检测项:元器件 检测样品:音频、视频及类似电子设备 标准:音频、视频及类似电子设备 安全要求 GB8898-2011 IEC 60065:2005
机构所在地:四川省成都市
检测项:元器件 检测样品:信息技术 设备 标准:信息技术设备的安全 GB 4943.1-2011 IEC 60950-1:2005+ A1:2009 EN 60950-1:2006 +A1:2010
机构所在地:广东省广州市
检测项:元器件故障试验 检测样品:信息技术设备 标准:IEC60950-1:2001; IEC60950-1:2005 + A1:2009 信息技术设备的安全:第1部分:通用要求
检测项:音频放大器元器件故障和过载试验 检测样品:信息技术设备 标准:IEC60950-1:2001; IEC60950-1:2005 + A1:2009 信息技术设备的安全:第1部分:通用要求
检测项:元器件故障试验 检测样品:信息技术设备 标准:IEC60950-1:2001; IEC60950-1:2005 + A1:2009 信息技术设备的安全:第1部分:通用要求
机构所在地:江苏省苏州市
机构所在地:广东省东莞市