共模输入电压范围检测实验

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range) 熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。熔点测试方法：毛细管法 ...查看详情>>

熔点

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熔点与熔点范围(Melting point and Melting range)

熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。

熔点测试方法：毛细管法

熔点测试仪器：

检测项目

熔点范围
熔点

收起百科↑ 最近更新：2017年03月13日

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天津市计量监督检测科学研究院（天津市电磁兼容检测中心）

检测项：部分参数检测样品：数字式指示仪标准：工业过程测量和控制系统用模拟输入数字式指示仪 GB/T 13639-2008

检测项：部分参数检测样品：温度变送器标准：DDZ一III系列电动单元组合仪表温度变送器 JB/T9267.2-1999

检测项：直流电源输入端口电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验检测样品：电气设备标准：电磁兼容试验和测量技术直流电源输入端口电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 GB/T 17626.29-2006/ IEC 61000-4-29:2000

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宁波市计量测试研究院（宁波市衡器管理所）

检测项：共模干扰检测样品：数字温度指示调节仪标准：《工业过程测量和控制系统用模拟输入数字式指示控制仪》GB/T13639-2008

检测项：电源电压变化检测样品：电子、电器产品标准：《电磁兼容试验和测量技术电压暂降短时中断和电压变化的抗扰度试验》GB/T17626.11-2008

检测项：电源电压变化检测样品：布氏硬度试样标准：《电磁兼容试验和测量技术电压暂降短时中断和电压变化的抗扰度试验》GB/T17626.11-2008

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中国测试技术研究院

检测项：电子单元输入共模抑制比检测样品：熔点仪标准：《熔点测定仪》 JB/T 6177-1992

检测项：电子单元输入共模抑制比检测样品：熔点仪标准：《熔点测定仪》 JB/T 6177-1992

检测项：长度检测样品：建筑物通信光纤布线系统（单模、多模）标准：综合布线系统工程验收规范 GB 50312-2007

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东莞信宝电子产品检测有限公司

检测项：射频电压（共模）抗扰度检测样品：额定电流不大于16A的低压电气及电子设备标准：电磁兼容　限值　谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB 17625.1-2012 IEC 61000-3-2:2009 EN 61000-3-2:2006+A1:2009+A2:2009

检测项：射频电压差模输入抗扰度检测样品：额定电流不大于16A的低压电气及电子设备标准：声音和电视广播接收机及有关设备抗扰度限值和测量方法 GB/T 9383-2008 CISPR20:2006 EN 55020:2007+A11:2011

检测项：频率范围检测样品：射频发射技术设备标准：台湾低电压功率产品测试 NCC LP0002:100-6

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上海精密计量测试研究所

检测项：共模抑制比KCMR 检测样品：三端稳压电源（电压调整器）标准：GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：A/D转换器标准：QJ3044-98 半导体集成电路数/模转换器和模/数转换器测试方法 SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理

检测项：数字输入高电平电压 VIH 检测样品：A/D转换器标准：QJ3044-98 半导体集成电路数/模转换器和模/数转换器测试方法 SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理

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中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：共模抑制比检测样品：电压比较器标准：SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：共模抑制比检测样品：运算放大器标准：SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

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西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：共模抑制比检测样品：电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T6798-1996

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检测项：输入低电平电压检测样品：运算(电压)放大器标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

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北京尊冠科技有限公司

检测项：共模抑制比KCMR 检测样品：电压比较器标准：GB/T 6798－1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》

检测项：共模抑制比KCMR 检测样品：运算放大器标准：GB/T17940-2000 《半导体器件集成电路第3部分:模拟集成电路》

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：电压比较器标准：GB/T 6798－1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》

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成都凯天电子股份有限公司实验中心

检测项：共模抑制比检测样品：电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996

检测项：共模抑制比检测样品：二极管标准：半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

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武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：共模抑制比检测样品：运算放大器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

检测项：共模抑制比检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入失调电压检测样品：电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

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