共模输入电压范围检测实验

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range) 熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。熔点测试方法：毛细管法 ...查看详情>>

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range)

熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。

熔点测试方法：毛细管法

熔点测试仪器：

检测项目

熔点范围
熔点

收起百科↑ 最近更新：2017年03月13日

搜索条件所在地区: 所属类别:

苏州市电子产品检验所有限公司

检测项：部分项目检测样品：不间断电源（EMC）标准：不间断电源（UPS）第二部分：电磁兼容性（EMC）要求 GB 7260.2-2009 IEC 62040-2:2005

检测项：部分项目检测样品：电磁兼容标准：电磁兼容通用标准居住、商业和轻工业环境中的抗扰度试验 GB17799.1-1999/ IEC 61000-6-1:1997

检测项：部分项目检测样品：不间断电源（EMC）标准：电磁兼容通用标准工业环境中的抗扰度试验 GB17799.2-2003/IEC 61000-6-2:1999

机构所在地：江苏省苏州市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
四川省电子产品监督检验所/中国赛宝（四川）实验室/四川省软件和信息系统工程测评中心

检测项：天线端射频电压（共模）抗扰度检测样品：声音和电视广播接收机及有关设备标准：声音和电视广播接收机及有关设备无线电干扰特性限值和测量方法 GB13837-2012 CISPR 13-2009

检测项：输入电压、输出电压和输出电流范围试验检测样品：通信电源设备标准：通信用电源设备通用试验方法 GB/T16821-2007

检测项：浪涌（冲击）（共模/差模）检测样品：TDMA通信系统移动台及辅助设备标准：900/1800MHz TDMA 数字蜂窝移动通信系统电磁兼容性限值和测量方法第一部分：移动台及其辅助设备 YD 1032-2000

机构所在地：四川省成都市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：共模抑制比CMRR 检测样品：半导体集成电路（运算放大器、电压比较器）标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件集成电路第1部分总则

检测项：共模抑制比CMRR 检测样品：半导体集成电路（运算放大器、电压比较器）标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件集成电路第1部分总则

检测项：输入钳位电压VIK 检测样品：微波组件标准：1、SJ 20527A-2003 微波组件通用规范 2、GJB 899A-2009 可靠性鉴定和验收试验 3、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法

机构所在地：河北省石家庄市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：共模抑制比KCMR 检测样品：半导体集成电路（稳压器）标准：1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范

检测项：共模抑制比KCMR 检测样品：半导体集成电路（运算放大器）标准：1.SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：半导体集成电路（电压比较器）标准：1.SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996 半导体器件集成电路

机构所在地：北京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
深圳市巴伦检测技术有限公司

检测项：交流电源端抗扰度-射频电压共模调幅信号检测样品：声音和电视广播接收机及有关设备标准：声音和电视广播接收机及有关设备抗扰度特性－限值和测量方法， EN 55020:2007+A11:2011 CISPR 20:2006 GB/T 9383-2008

检测项：交流电源端抗扰度-电快速瞬变脉冲群共模检测样品：声音和电视广播接收机及有关设备标准：声音和电视广播接收机及有关设备抗扰度特性－限值和测量方法， EN 55020:2007+A11:2011 CISPR 20:2006 GB/T 9383-2008

检测项：输入电压设定值的改变检测样品：电力变压器、电源、电抗器和类似产品标准：电力变压器、电源、电抗器和类似产品的安全第1部分：通用要求和试验 GB 19212.1-2008 IEC 61558-1:2005+A1:2009 EN 61558-1:2005+A1:2009

机构所在地：广东省深圳市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
深圳市摩尔环宇通信技术有限公司摩尔实验室

检测项：直流输出共模电压检测样品：不间断电源设备标准：不间断电源设备第1－1部分：操作人员触及区使用的UPS的一般规定和安全要求 IEC 62040-1:2008 EN 62040-1:2008 GB7260.1-2008

检测项：接收机可用的输入电平范围检测样品：数字蜂窝移动通信网设备：移动台标准：1）全球移动通信系统 (GSM) 移动台附属要求（GSM13.01）EN301 419-1 V4.1.1 2）全球移动通信系统(GSM); 高速电路转换数据 (HSCSD) 多信道移动台附属要求(GSM 13.34) EN301 419-2 V5.1

检测项：动态范围检测样品：标准：

机构所在地：广东省深圳市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
上海仪器仪表自控系统检验测试所

检测项：共模、串模抗扰度试验检测样品：信息技术设备；家用电器；电信设备；声音和电视广播设备；工科医设备；照明灯具和其它电子设备标准：工业自动化仪表通用试验方法第1部分:共模、串模抗扰度试验JB/T 6239.1-2007

检测项：0Hz~150kHz共模传导骚扰抗扰度试验检测样品：军用设备和分系统标准：电磁兼容试验和测量技术0Hz~150kHz共模传导骚扰抗扰度试验GB/T 17626.16-2006 EN 61000-4-16:2009 IEC 61000-4-16:2009 安全相关仪控系统中电磁干扰和射频

检测项：部分参数检测样品：容积式流量计标准：容积式流量计通用技术条件JB/T 9242-1999

机构所在地：上海市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
深圳市莫特技术服务有限公司检测实验室

检测项：部分项目检测样品：电磁兼容/仪器仪表设备（单相设备）标准：测量，控制和实验室用的电设备电磁兼容性要求要求 EN 61326-1：2006 GB/T 18268.1-2010

检测项：部分项目检测样品：电磁兼容/专业音箱设备标准：电磁兼容　专业用途的音频、视频、音视频和娱乐场所灯光控制设备的产品类标准　第1部分：发射抗扰度 GB/T19954.1-2005, GB/T19954.2-2005, EN 55103-1：2009, EN 55103-2

检测项：部分项目检测样品：医用电气设备(只做医用显示器和医用电源）标准：医用电气设备-第1部分安全通用要求 GB 9706.1-2007

机构所在地：广东省深圳市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
深圳市沃特测试技术服务有限公司

检测项：11 电信端传导共模骚扰检测样品：低压电气和电子设备标准：电磁兼容限值谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） GB 17625.1-2012 IEC 61000-3-2: 2009 Ed. 3.2 EN 61000-3-2: 2006+A1:2009+A2:2009 AS/NZS 61000.3.2: 2

检测项：5.2 电信端传导共模骚扰检测样品：信息技术设备标准：信息技术设备的干扰电磁发射 J55022(H22): 2005+A1:2005+A2:2006

检测项：电压波动电压闪烁检测样品：低压电气和电子设备标准：IEC61000-3-2:2009电磁兼容限值谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A）

机构所在地：广东省深圳市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：共模抑制比检测样品：模拟集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：共模抑制比检测样品：模拟集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：输入箝位电压检测样品：模拟集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

机构所在地：上海市更多相关信息>>

我要咨询联系我们

首页
上一页
4 5 6 7 8 9 10 ...Go
下一页
尾页

热点资讯MORE>

共晶点、玻璃转化温度、共熔点、塌陷温度的测定方法
熔点的测定方法
什么是煤的灰熔点？为什么要检测煤炭的灰熔点？
碳纤维熔点、导热系数、比热容及热导率及计算方法
差示扫描量热仪DSC在高分子材料领域中的应用
熔点测试介绍
PPS熔点与热变形温度的测定
橡胶助剂产品的熔点检测方法有哪些？
熔点测定
高熔点合金催化剂生长碳纳米管机理研究取得新进展

熔点

简介

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range)

检测项目

苏州市电子产品检验所有限公司

四川省电子产品监督检验所/中国赛宝（四川）实验室/四川省软件和信息系统工程测评中心

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

深圳市巴伦检测技术有限公司

深圳市摩尔环宇通信技术有限公司摩尔实验室

上海仪器仪表自控系统检验测试所

深圳市莫特技术服务有限公司检测实验室

深圳市沃特测试技术服务有限公司

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

热点资讯MORE>

最新资讯MORE>

客户服务