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检测项:输出短路电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
检测项:输出短路电流 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
检测项:输出短路电流 检测样品:光电耦合器 标准:GB/T15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分 SJ 2215-8
机构所在地:湖北省宜昌市
检测项:*部分项目 检测样品:绝缘电阻表(兆欧表) 标准:直接作用模拟指示电测量仪表及其附件 GB/T7676.1-1998 GB/T7676.6-1998 GB/T7676.9-1998
机构所在地:上海市
检测项:部分参数 检测样品:低压成套开关设备和控制设备 标准:低压成套开关设备和控制设备第1部分:型式试验和部分型式试验成套设备 GB7251.1-2005 IEC 60439-1:1999
机构所在地:天津市
机构所在地:江苏省扬州市
机构所在地:广东省珠海市
检测项:短路电压 检测样品:电力变压器、电源装置和类似产品 标准:电力变压器、电源、电抗器和类似产品的安全 第1部分:通用要求和试验 GB19212.1-2008 IEC61558-1:2005
检测项:短路和过载保护 检测样品:电力变压器、电源装置和类似产品 标准:电力变压器、电源、电抗器和类似产品的安全 第1部分:通用要求和试验 GB19212.1-2008 IEC61558-1:2005
机构所在地:四川省成都市
机构所在地:四川省成都市
机构所在地:浙江省杭州市