官方微信
您当前的位置:首页 > 内部目检(单片)
直接检眼镜产品描述:通常由照明系统和观察系统组成。照明系统包括灯泡、聚光镜和反射镜。观察系统包括窥孔和聚焦补偿系统。 直接检眼镜预期用途:用于检查视网膜。 直接检眼镜品名举例:直接检眼镜、广角检眼镜 直接检眼镜管理类别:Ⅱ 直接检眼镜相关指导原则: 1、直接检眼镜注册技术审查指导原则 直接检眼镜相关标准: 1 ...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年04月27日
检测项:内部目检和机械检查 检测样品:电磁继电器 标准:《电磁继电器通用规范》GJB1042A-2002
检测项:内部目检和机械检查 检测样品:电磁继电器 标准:《电磁继电器总技术条件》 SJ891-1974
检测项:外部目检和机械检查 检测样品:电磁继电器 标准:《电磁继电器总技术条件》 SJ891-1974
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:内部目检 检测样品:谐振器 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
检测项:内部目检 检测样品:通信连接器 标准:电子组件的可接受性IPC-A-610E-2010
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:内部目检和结构检查 检测样品: 标准:
检测项:密封(细检) 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件 试验方法和程序GJB548B-2005
机构所在地:辽宁省沈阳市 更多相关信息>>
检测项:扫描电子显微镜(SEM)检查 检测样品:电子元器件 标准:GJB4027A-2006《军用电子元器件破坏性物理分析方法》
检测项:外部检查 检测样品:电子元器件 标准:GJB4027A-2006《军用电子元器件破坏性物理分析方法》
检测项:内部检查 检测样品:电子元器件 标准:GJB 128A-1997《 半导体分立器件试验方法》
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:内部目检 检测样品:电子元器件/电工电子产品 标准:军用电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目1103 GJB 4027A-2006
检测项:外部目检 检测样品:塑封微电子器件 标准:军用电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目1103 GJB 4027A-2006
机构所在地:江苏省苏州市 更多相关信息>>
检测项:内部目检 检测样品:军用及民用标准件 标准:《600℃高温高压管路快卸卡箍等卡箍系列标准》 GJB3821-1990
检测项:目检 检测样品:印制板 标准:《汽车GPS导航系统通用规范》GB/T19392-2013
检测项:外部目检 检测样品:军用及民用标准件 标准:《600℃高温高压管路快卸卡箍等卡箍系列标准》 GJB3821-1990
检测项:内部目检 检测样品:电子元器件及设备 物理性能试验 标准:1、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 2、GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 4
检测项:内部目检 检测样品:军用电子元器件破坏性物理分析 标准:1、GJB 4027A-2006 军用电子元器件破坏性物理分析方法 2、GJB 5914-2006 各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法 3、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 4、GJB 360A-1996 电子及
检测项:内部目检 检测样品:电子元器件及设备 物理性能试验 标准:1、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 2、GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 4、GJB 360A-1996 电子及电气元件试验方法 5、G
机构所在地:河北省石家庄市 更多相关信息>>
检测项:电工钢片(带)磁性能 检测样品:金属材料 标准:《用单片测试仪测量电工钢片(带)磁性能的方法》 GB/T 13789-2008
检测项:电工钢片(带)磁性能 检测样品:金属材料 标准:《在工频条件下单片试样材料交流磁特性的标准试验方法》 ASTM A804-04(2009)e1
检测项:电工钢片(带)磁性能 检测样品:金属材料 标准:《电磁钢板单片磁性能测量方法》 JIS C2556-1996
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:外部目检 检测样品: 标准:
检测项:外部目检 检测样品:电子元器件试验 标准:微电子器件试验方法和程序方法 GJB 548B-2005 2009.1 外部目检;半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997方法2071外观及机械检查
检测项:静态参数 检测样品:电子元器件试验 标准:微电子器件试验方法和程序方法 GJB 548B-2005 2009.1 外部目检;半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997方法2071外观及机械检查
检测项:动态参数 检测样品:电子元器件试验 标准:微电子器件试验方法和程序方法 GJB 548B-2005 2009.1 外部目检;半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997方法2071外观及机械检查
机构所在地:湖北省孝感市 更多相关信息>>