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YY/T 0879.1-2013医疗器械致敏反应试验 第1部分：小鼠局部淋巴结试验(LLNA) 放射性同位素掺入法 YY/T 0879.2-2015医疗器械致敏反应试验 第2部分：小鼠局部淋巴结试验(LLNA)BrdU-ELISA法 查看详情>>
收起百科↑ 最近更新：2022年04月19日
检测项：耐欠压浪涌性能 检测样品：模拟开关 标准：电源电压暂降、短时中断抗扰度试验 IEC61000-4-29
检测项：欠压锁定电压VIL 检测样品：DC/DC电源模块 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项：电压调整率 检测样品：电压 调整器 标准：GB/T4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：输出级饱和压降 检测样品：交流发电机用调节器 标准：汽车交流发电机用电子电压调节器技术条件 QC/T 774-2006
检测项：密封塞压接 检测样品：汽车用低压电线束 标准：汽车低压电线束技术条件 QC/T29106-2004(2010)
检测项：压接接点横断面 检测样品：汽车用低压电线束 标准：汽车低压电线束技术条件 QC/T29106-2004(2010)
机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项：电源电压影响试验 检测样品：孔板 标准：用安装在圆形截面管道中的差压装置测量满管流体流量 第2部分：孔板 GB/T2624.2-2006
检测项：机械振动影响 检测样品：电容式湿敏元件与湿度传感器 标准：电容式湿敏元件与湿度传感器总规范 GB/T 15768-1995
检测项：环境温度影响 检测样品：电容式湿敏元件与湿度传感器 标准：电容式湿敏元件与湿度传感器总规范 GB/T 15768-1995
机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项：搪玻璃层的检漏 检测样品：聚乙烯（PE）原料 标准：GB/T 7993-2003《用在腐蚀条件下的搪玻璃设备的高电压试验方法》
检测项：搪玻璃层的检漏 检测样品：防腐蚀压力管道元件（含管子、管件、阀门、法兰） 标准：GB/T 7993-2003《用在腐蚀条件下的搪玻璃设备的高电压试验方法》
检测项：电压测量 检测样品：聚乙烯管道焊接接头 标准：TSG D2002—2006《燃气用聚乙烯管道焊接技术规则》、GB/T 20674.2—2006《塑料管材和管件 聚乙烯系统熔接设备 第2部分：电熔连接》
机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>
检测项：开路试验 检测样品：调 压 器 标准：QC/T 680-2002 《磁电机用电压调节器 技术条件》
检测项：超速试验 检测样品：调 压 器 标准：QC/T 680-2002 《磁电机用电压调节器 技术条件》
检测项：浸水试验 检测样品：调 压 器 标准：QC/T 680-2002 《磁电机用电压调节器 技术条件》
机构所在地：重庆市 更多相关信息>>
检测项：浪涌抗扰度试验 检测样品：电压互感器二次回路压降测试 标准：JJF1055-1997 《交流电能表现场校准技术规范》
检测项：振荡波抗扰度试验 检测样品：电压互感器二次回路压降测试 标准：JJF1055-1997 《交流电能表现场校准技术规范》
检测项：功率消耗 检测样品：电压互感器二次回路压降测试 标准：JJF1055-1997 《交流电能表现场校准技术规范》
机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项：保护性能(过电压、过电流、输入欠压) 检测样品：电源分配列柜 标准：YD/T 939-2005 《传输设备用电源分配列柜》
检测项：耐电压 检测样品：光纤配线架（柜） 标准：YD/T 778-2011
检测项：输入直流电压变化范围 检测样品：通信用直流-直流模块电源 标准：YD/T 1376-2005 《通信用直流—直流模块电源》
检测项：击穿电压 检测样品：印 制 电 路 用 覆 铜 箔 层 压 板 标准：阻燃型铝基覆铜箔层压板 规范 SJ 20780-2000
检测项：击穿电压 检测样品：印 制 电 路 用 覆 铜 箔 层 压 板 标准：印制电路用覆金属箔层压板试验方法 GJB 1651-1993
检测项：击穿电压 检测样品：印 制 电 路 用 覆 铜 箔 层 压 板 标准：刚性及多层印制板用基材 规范 IPC 4101C
机构所在地：江苏省常州市 更多相关信息>>
检测项：正向压降 检测样品：半导体 二极管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997
检测项：饱和电压 检测样品：电容器 标准：半导体光耦合器输出饱和压降的测试方法SJ2215.8-1982
检测项：正向直流电压 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件试验方法GJB128A-1997
检测项：C、E饱和电压 检测样品：双极型 晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997
机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>
YY/T 0879.1-2013医疗器械致敏反应试验 第1部分：小鼠局部淋巴结试验(LLNA) 放射性同位素掺入法
