武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：输出高电平电压 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

检测项：输出低电平电压 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

检测项：输入低电平电压 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第三十六研究所计量测试中心

检测项：反向辐射电平 检测样品：数字式搜索 接收机 标准：GJB 4268-2001 通信对抗数字式搜索接收机通用规范

检测项：反向辐射电平 检测样品：功率放大器 标准：GJB3258-1998 功率放大器通用规范

检测项：输入电平适应性 检测样品：干扰激励器 标准：GJB 3093-1997 通信干扰激励器通用规范

机构所在地：浙江省嘉兴市 更多相关信息>>

上海市计量测试技术研究院（华东国家计量测试中心/中国上海测试中心）

检测项：最高输出电平 检测样品：*广播扩声系统检测 标准：智能建筑工程质量验收规范 GB 50339-2003

检测项：*输出电平 检测样品：广播扩声系统检测 标准：民用闭路监视电视系统工程技术规范 GB 50198-1994 电视视频通道测试方法 GB/T 3659-1983

检测项：*最高输出电平 检测样品：接触式IC卡 标准：识别卡 带触点的集成电路卡第3部分： 电信号和传输协议 GB/T16649.3-2006 ISO/IEC 7816-3-2006

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：输入高电平电压VIH 检测样品：数字集成电路 标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：数字集成电路 标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：输入电平适应范围 检测样品：微波器件 标准：GJB2650-1996微波元器件性能测试方法

检测项：输出低电平电流IOL 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：反射电平 检测样品：微波暗室 标准：《微波暗室性能测试方法》GJB6780-2009

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：存储器 标准：《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》SJ/T 10739-1996

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：TTL电路 标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

云南省电子信息产品检验院

检测项：等电平远端串音(ELFEXT) 检测样品：综合布线系统 标准：综合布线系统工程验收规范GB 50312-2007

检测项：等电平远端串音功率和(PS ELFEXT) 检测样品：综合布线系统 标准：综合布线系统工程验收规范GB 50312-2007

检测项：黑电平稳定性 检测样品：计算机用液晶显示器 标准：SJ/T 11292-2003计算机用液晶显示器通用规范

机构所在地：云南省昆明市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：输入阈值电平电压VT(I) 检测样品：DC/DC电源模块 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：DC/DC电源模块 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：DC/DC电源模块 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国计量科学研究院

检测项：静区反射率 电平 检测样品：微波天线暗室 标准：GJB6780-2009微波暗室性能测试方法

检测项：自由空间归一化场地衰减 （FSNSA）--场地参考法 检测样品：半电波暗室（SAC）和全电波暗室(FAC） 标准：GB/T 6113.104-2008,CISPR 16-1-4:2010,EN 50147-3:2000无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范第1-4部分： 无线电骚扰和抗扰度测量设备辅助设备辐射骚扰.

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

四川省产品质量监督检验检测院

检测项：信号电平 检测样品：电话机 标准：自动电话机技术条件 GB/T 15279-2002

检测项：高低频群电平差 检测样品：电话机 标准：自动电话机技术条件 GB/T 15279-2002

检测项：无用信号功率电平 检测样品：电话机 标准：自动电话机技术条件 GB/T 15279-2002

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>