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检测项:输出高电平电压 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
检测项:输出低电平电压 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
检测项:输入高电平电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
机构所在地:湖北省宜昌市
检测项:镍释放量 检测样品:皮革制品 标准:任何插入耳的穿孔部位及其他人体穿孔部位与皮肤长期直接接触的后组件中镍释放的参考测试方法 EN 1811:2011
机构所在地:江苏省苏州市
检测项:邻苯二甲酸盐 检测样品:玩具和儿童用品 标准:用于测定来自与皮肤直接长久接触的产品中镍的释放量的参考试验方法 EN 1811-2011
机构所在地:江苏省无锡市
检测项:镍释放量 检测样品:玩具和儿童用品 标准:用于测试来自与皮肤直接长久接触的产品上镍释放量的参考试验方法 EN 1811:2011
机构所在地:江苏省扬州市
检测项:射线检测 检测样品:金属材料 及构件 标准:壁厚不大于2英寸(50.8mm)铸钢件标准参考射线照片 ASTM E446-2010
检测项:射线检测 检测样品:金属材料 及构件 标准:壁厚不大于2英寸(50.8mm)铸钢件标准参考射线照片 ASTM E446-2010
机构所在地:浙江省宁波市