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干气密封产品检验项目及依据标准
序号 |
检验项目 |
检验依据标准及条款 |
检验方法依据标准或条款 |
1 |
硬质密封环密封端面平面度 |
JB/T 11289-2012《干气密封技术条件》 5.2.2.1、5.2.3.1 |
JB/T 7369-2011《机械密封端面平面度检验方法》 |
2 |
软质密封环密封端面平面度 |
JB/T 11289-2012《干气密封技术条 件》 5.2.2.1、5.2.3.1 |
JB/T 7369-2011《机械密封端面平面度检验方法》 |
3 |
石墨密封环气压试验 |
JB/T 11289-2012《干气密封技术条件》 5.2.1.4 |
JB/T 11289-2012《干气密封技术条件》 5.2.1.4 |
4 |
弹簧工作压力 |
JB/T 11289-2012《干气密封技术条件》 5.2.1.3 |
JB/T 11107-2011《机械密封用圆柱螺旋弹簧》 |
5 |
静态试验 |
JB/T 11289-2012《干气密封技术条件》 6.2、5.3.1 |
JB/T 11289-2012《干气密封技术条件》6.2.1.2、 6.2.2.2 |
6 |
动态试验 |
JB/T 11289-2012《干气密封技术条件》 6.2、5.3.1 |
JB/T 11289-2012《干气密封技术条件》 6.2.1.3、6.2.2.3 |
收起百科↑ 最近更新:2018年12月03日
检测项:VCEsat: 集电极与发射极间的饱和压降 检测样品:场效应晶体管 标准:半导体器件 分立器件和集成电路 第8部分:场效应晶体管IEC 60747-8(第三版 2010-12)
机构所在地:
检测项:芳烃、烯烃、苯、醇类和醚类含量 检测样品:石油产品 标准:用气相色谱法测量火花点火发动机油中烃类型、氧饱和化合物和苯含量的试验方法 ASTM D6839-02(2007)
机构所在地:
检测项:集电极—发射极饱和电压 检测样品:半导体三极管 标准:半导体分立器件和集成电路 第七部分:双极型晶体管GB/T 4587-1994
检测项:集电极—发射极饱和电压 检测样品:固定电感器 标准:电子设备用固定电感器_第2部分_分规范表面安装电感器 SJ/T 11287-2003
机构所在地:北京市
检测项:集电极-发射极饱和电压 检测样品:晶体三极管 标准:GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
检测项:集电极-发射极饱和电压 检测样品:晶体三极管 标准:GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
检测项:基极-发射极饱和电压 检测样品:晶体三极管 标准:GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
机构所在地:上海市