中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：延迟时间 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

北京宜富泰网络测试实验室有限公司

检测项：部分项目 检测样品：第三代移动通信网网管故障管理接口 标准：3GPP TS32. 111-2 V11.0.0 (2011-12) 《3GPP；技术规范组服务和系统方面；电信管理；故障管理；第2部分：告警综合参考点：信息服务》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

深圳市摩尔环宇通信技术有限公司摩尔实验室

检测项：定时的提前和绝对延迟 检测样品：数字蜂窝移动通信网设备：移动台 标准：1） 全球移动通信系统 (GSM) 移动台附属要求 （GSM13.01）EN301 419-1 V4.1.1 2） 全球移动通信系统(GSM); 高速电路转换数据 (HSCSD) 多信道移动台附属要求(GSM 13.34) EN301 419-2 V5.1

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

上海新蓦尔通信技术有限公司摩尔实验室

检测项：定时的提前和绝对延迟 检测样品：数字蜂窝移动通信网设备：移动台 标准：数字蜂窝通信系统（阶段 2+）；移动台(MS)一致性规范；第四部分：用户识别模块(SIM) 应用工具包一致性测试规范 3GPP TS 51.010-4 V4.26.0 (2013-07) ETSI EN 300 607-4 V5.1.1 (2000-0

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中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：低到高电平输出的传输延迟时间 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：高到低电平输出的传输延迟时间 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>