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检测项:截止波长温度系数 检测样品:光学玻璃 标准:《滤光玻璃测试方法 光谱特性》 GB/T 15489.1-1995
机构所在地:安徽省蚌埠市 更多相关信息>>
检测项:集电极-基极截止电流Icbo 检测样品:双极型晶体管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3011
检测项:发射极-基极截止电流Iebo 检测样品:双极型晶体管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3011
检测项:反向截止电流 检测样品:继电器 标准:半导体光耦合器测试方法 SJ 2215.9-1982
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:集电极--基极截止电流ICBO 检测样品:晶体三极管 标准:GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
检测项:发射极--基极截止电流IEBO 检测样品:场效应管 标准:GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管
检测项:集电极--发射极截止电流ICEO 检测样品:场效应管 标准:GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管
机构所在地:河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项:极限温度测试 检测样品:阀门 标准:供水装置-截止阀,闸阀,止回阀 AS 1628:1999 +修订版1:2001
检测项:标记 检测样品:阀门 标准:供水装置-截止阀,闸阀,止回阀 AS 1628:1999 +修订版1:2001
检测项:密封圈/把手 检测样品:阀门 标准:供水装置-截止阀,闸阀,止回阀 AS 1628:1999 +修订版1:2001
机构所在地:浙江省宁波市 更多相关信息>>
检测项:集电极-发射极截止电流ICEO 检测样品:晶体管 标准:GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管
检测项:发射极-基极截止电流IEBO 检测样品:晶体管 标准:GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:频带与截止频率 检测样品:局部放电测试仪 标准:高电压测试设备通用技术条件 第4部分:局部放电测量仪 DL 846.4-2004
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:双向开关截止电流 检测样品:半导体集成电路模拟开关 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:截止波长 检测样品:中心管式通信用室外光缆 标准:《中心管式通信用室外光缆》 YD/T 769-2003
机构所在地:浙江省杭州市 更多相关信息>>
检测项:DFR试验 检测样品:金属 材料 标准:金属材料细节疲劳额定强度截止值(DFRcutoff)试验方法 HB 7110-1994
检测项:反向截止电流ICEO 检测样品:晶闸管 标准:GB∕T 15291-1994半导体器件 第6部分:晶闸管
检测项:集电极-发射极截止电流ICEO 检测样品:双极型晶体管 标准:GB/T4587-1994半导体分立器件和集成电路 第七部分:双极型晶体管
检测项:集电极-基极截止电流ICBO 检测样品:双极型晶体管 标准:GB/T4587-1994半导体分立器件和集成电路 第七部分:双极型晶体管