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检测项:CE106 10kHz-40GHz 天线端子传导发射 检测样品:军用设备和分系统 标准:《军用设备和分系统电磁发射和敏感 度要求》GJB151A-97 《军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量》GJB152A-97
检测项:CE106 10kHz-40GHz 天线端子传导发射 检测样品:军用设备和分系统 标准:《军用设备和分系统电磁发射和敏感 度要求》GJB151A-1997 《军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量》GJB152A-1997
机构所在地:安徽省合肥市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平 检测样品:集成电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
检测项:输出低电平 检测样品:集成电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:爬电距离、电气间隙和绝缘穿透距离 检测样品:信息技术设备 标准:信息技术设备 安全 第1部分:通用要求 GB4943.1-2011 信息技术设备 安全 第1部分:通用要求 IEC 60950-1-2005 信息技术设备 安全 第1部分:通用要求 EN60950-1:2006
机构所在地:北京市 更多相关信息>>