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脆化温度(Brittletemperature) 聚合物低温性能的一种量度,以具有一定能量的冲锤冲击试样时,当试样开裂概率达到50%时的温度,称为脆化温度,也叫脆折点。 脆化温度 测试方法: 冲击法 脆化温度 测试仪器:脆化温度测试仪 查看详情>>
脆化温度(Brittletemperature)
聚合物低温性能的一种量度,以具有一定能量的冲锤冲击试样时,当试样开裂概率达到50%时的温度,称为脆化温度,也叫脆折点。
脆化温度测试方法:冲击法
脆化温度测试仪器:脆化温度测试仪
收起百科↑ 最近更新:2017年04月13日
检测项:频率值 检测样品:晶振 标准:GJB1648A-2011 晶体振荡器通用规范 GJB2138-94 石英晶体元件总规范 GJB/Z45.1-93 军用压电器件系列型谱 石英晶体元件
检测项:可靠性试验 检测样品:电工电子产品 标准:GB/T2423.34-2005 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验
检测项:可靠性试验 检测样品:电工电子产品 标准:GB/T2423.34-2005 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验
机构所在地:湖北省宜昌市
机构所在地:北京市
检测项:V/F失调误差温度系数 检测样品:半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准:半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理 GB/T14114-1993
检测项:V/F增益误差温度系数 检测样品:半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准:半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理 GB/T14114-1993
检测项:F/V失调误差温度系数 检测样品:半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准:半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理 GB/T14114-1993
机构所在地:重庆市
检测项:振幅/调制频率特性 检测样品:电视发射机 标准:《电视发射机技术要求和测量方法》 GY/T 177-2001
机构所在地:北京市
机构所在地:江苏省南京市
检测项:平均温度系数 检测样品:频率计 标准:频率计数器测试方法 GB/T 15151-1994
检测项:工作温度 检测样品:频率计 标准:频率计数器测试方法 GB/T 15151-1994
检测项:工作温度 检测样品:频率计 标准:频率计数器测试方法 GB/T 15151-1994
机构所在地:浙江省杭州市