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检测项:含密封源仪表中漏射线 检测样品:一次性使用卫生、医疗用品与消毒产品 标准:含密封源仪表的放射卫生防护要求GBZ125-2009
检测项:含密封源仪表中辐射剂量 检测样品:一次性使用卫生、医疗用品与消毒产品 标准:含密封源仪表的放射卫生防护要求GBZ125-2009
机构所在地:福建省泉州市 更多相关信息>>
检测项:漏点 检测样品:涂层检查 标准:高电压检测管道涂层 NACE RP 0274-2004
检测项:涂层检查 检测样品:涂层 标准:干膜厚度为250~760um的管道内涂层漏铁点检验 NACE TM 0186-2002
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:漏--源短路时的栅极截止电流IGSS 检测样品:晶体二极管 标准:GB4589.1-1989《半导体器件分立器件和集成电路总规范》
检测项:漏--源断态电阻RDSon 检测样品:晶体二极管 标准:GB4589.1-1989《半导体器件分立器件和集成电路总规范》
检测项:栅--源击穿电压BVGS 检测样品:晶体二极管 标准:GB4589.1-1989《半导体器件分立器件和集成电路总规范》
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:栅源短路时的漏极电流 检测样品:晶体管 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T4587-1994
检测项:栅-源截止电压 检测样品:晶体管 标准:半导体器件分立器件 第8部分:场效应晶体管 GB/T4586-1994
检测项:栅-源阈值电压 检测样品:晶体管 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T4587-1994
检测项:γ射线漏射线检测 检测样品: 标准:含密封源仪表的放射卫生防护要求GBZ 125—2009
检测项:X射线漏射线检测 检测样品:放射卫生检测 标准:医用X射线诊断卫生防护监测规范GBZ 138—2002
检测项:γ射线漏射线检测 检测样品: 标准:X射线衍射仪和荧光分析仪防护标准GBZ 115—2002
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:漏点 检测样品:涂层(漆膜) 标准:钢质管道聚乙烯胶粘带防腐层技术标准SY/T 0414-2007 7.5
检测项:漏点 检测样品:涂层(漆膜) 标准:非腐蚀性气体输送用管线管内涂层SY/T 6530-2010 附录C
检测项:漏点 检测样品:涂层(漆膜) 标准:压敏胶粘带180°剥离强度试验方法GB/T 2792-1998
机构所在地:河北省廊坊市 更多相关信息>>
检测项:漏--源短路时的栅极截止电流IGSS 检测样品:场效应管 标准:GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管
检测项:漏--源通态电阻RDSon 检测样品:场效应管 标准:GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管
检测项:截止态漏级漏电流ID(off) 检测样品:模拟/混合集成电路 标准:GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
机构所在地:河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项:部分参数 检测样品:节能灯(能效) 标准:原电池 第二部分:外形尺寸和技术要求 GB/T 8897.2-2008
检测项:部分参数 检测样品:节能灯(能效) 标准:原电池 第二部分:外形尺寸和技术要求 GB/T 8897.2:2008 IEC 60086-2:2011
检测项:电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度 检测样品:电气和电子设备(电磁兼容) 标准:电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验 GB/T 17626.11-2008
机构所在地:福建省厦门市 更多相关信息>>
检测项:漏极截止电流IDSS 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算(电压) 放大器测试方法的基本原理
检测项:栅-源阈值电压VGS(th) 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算(电压) 放大器测试方法的基本原理
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:静态漏—源通态电阻 检测样品:场效应管 标准:GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管
检测项:静态漏—源通态电阻 检测样品:二极管 标准:GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4023-1997 半导体器件:分立器件和集成电路第2部分:整流二极管 GB/T 6571-1995 半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管
检测项:截止态漏极漏电流 检测样品:模拟集成电路 标准:GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压
机构所在地:上海市 更多相关信息>>