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检测项:输出电流 检测样品:混合集成电路 标准:混合集成电路DC/DC变换器 测试方法 SJ20646-1997
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机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:电压校准功能最大输出电流 检测样品:多功能标准源 标准:数字多用表校准仪通用技术条件 GB/T15637-1995
检测项:电压校准功能最大输出电流 检测样品:示波器 标准:通用阴极射线示波器测试方法 GB 6585-1996
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机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
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检测项:输出高阻态时低电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
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检测项:输出短路电流 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3005.1
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检测项:输出短路电流Ios 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
检测项:输入电流变化引起的输出改变量试验 检测样品:电力负荷管理终端 标准:DL/T 533-2007 《电力负荷管理终端》
检测项:不平衡电流对三相有功和无功功率引起的改变量试验 检测样品:交流采样测控单元 标准:《交流采样远动终端条件》、 DL/T630-1997 《远动终端通用技术条件》 GB/T13729-2002
检测项:有功功率、无功功率基本误差测量 检测样品:交流采样测控单元 标准:《交流采样远动终端条件》、 DL/T630-1997 《远动终端通用技术条件》 GB/T13729-2002
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:高电平输出电流 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
检测项:低电平输出电流 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
检测项:输出电流 检测样品:DC/DC电源变换器 标准:混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输出漏电流 检测样品:混合和固体延时继电器 标准:《混合和固体延时继电器总规范》 GJB1513A-2009
检测项:中等电流 检测样品:电磁继电器 标准:《有可靠性指标的功率型电磁继电器总规范》 GJB2888A-2011
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:牺牲阳极 输出电流 检测样品:在役 埋地管道 标准:埋地钢质管道阴极保护参数测量方法GB/T21246-2007 6.2
检测项:牺牲阳极 输出电流 检测样品:在役 埋地管道 标准:埋地钢质管道阴极保护参数测量方法 GB/T21246-2007 6.2
检测项:管内电流 检测样品:在役 埋地管道 标准:埋地钢质管道阴极保护参数测量方法GB/T21246-2007 7.0
机构所在地:河北省廊坊市 更多相关信息>>