福建省产品质量检验研究院

检测项：刻度误差 检测样品：声频功率放大器 标准：声系统设备 第3部分:声频放大器测量方法 GB/T 12060.3-2011

检测项：输出特性 检测样品：声频功率放大器 标准：声系统设备 第3部分:声频放大器测量方法 GB/T 12060.3-2011

检测项：平衡输入和输出 检测样品：声频功率放大器 标准：声系统设备 第3部分:声频放大器测量方法 GB/T 12060.3-2011

机构所在地：福建省福州市 更多相关信息>>

湖南省电子产品检测分析所/中国赛宝（湖南）实验室/湖南省软件评测中心

检测项：输入输出电平 检测样品：声频 功率 放大器※ 标准：声频放大器测量方法GB/T 12060.3-2011 声频功率放大器 通用技术条件 SJ/T 10406-1993

检测项：输入输出阻抗 检测样品：声频 功率 放大器※ 标准：声频放大器测量方法GB/T 12060.3-2011 声频功率放大器 通用技术条件 SJ/T 10406-1993

检测项：失真限制输出功率 检测样品：声频 功率 放大器※ 标准：声频放大器测量方法GB/T 12060.3-2011 声频功率放大器 通用技术条件 SJ/T 10406-1993

机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>

广东惠晟检验科技有限公司

检测项：失真限制的输出功率 检测样品：声频功率放大器 标准：SJ/T 10406-1993 声频功率放大器通用技术条件 GB/T 9001-1988 声频放大器测量方法

检测项：骚扰功率 检测样品：声频功率放大器 标准：SJ/T 10406-1993 声频功率放大器通用技术条件 GB/T 9001-1988 声频放大器测量方法

检测项：信噪比 检测样品：声频功率放大器 标准：SJ/T 10406-1993 声频功率放大器通用技术条件 GB/T 9001-1988 声频放大器测量方法

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

湖北省计量测试技术研究院

检测项：输出端泵浦泄漏 检测样品：喇曼光纤放大器 标准：喇曼光纤放大器技术条件 GB/T 20184-2006

检测项：输出端反射 检测样品：喇曼光纤放大器 标准：喇曼光纤放大器技术条件 GB/T 20184-2006

检测项：输入功率范围、输出功率范围、最大总输出功率和工作波长范围（分立式RFA） 检测样品：喇曼光纤放大器 标准：喇曼光纤放大器技术条件 GB/T 20184-2006

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

北京市电子产品质量检测中心

检测项：输出特性 检测样品：声频放大器 标准：声系统设备 第3部分：声频放大器测量方法 GB/T 12060.3—2011

检测项：额定输出电压或功率的持续时间 检测样品：声频放大器 标准：声系统设备 第3部分：声频放大器测量方法 GB/T 12060.3—2011

检测项：平衡输入和输出 检测样品：家庭影院用环绕声放大器 标准：家庭影院用环绕声放大器通用规范 SJ/T 11217—2000

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

国家广播电影电视总局电影技术质量检测所

检测项：失真限制的输出功率 检测样品：声频功率放大器 标准：《高保真声频放大器最低性能要求》GB/T14200-1993

检测项：线路输出最高电平 检测样品：调音台 标准：《广播调音台电性能运行技术指标测量方法》GY 76-1989

检测项：失真限制的输出功率 检测样品：数字电影用声频功率放大器 标准：《数字电影中档和流动放映系统用声频功率放大器技术要求和测量方法》GY/T 248-2011

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

广东省电子电器产品监督检验所

检测项：刻度误差 检测样品：声频功率放大器 标准：声频系统设备 第3部分：声频放大器测量方法 GB/T 12060.3-2011

检测项：输出特性 检测样品：声频功率放大器 标准：声频系统设备 第3部分：声频放大器测量方法 GB/T 12060.3-2011

检测项：额定（失真限制的）输出电压或功率的持续时间 检测样品：声频功率放大器 标准：声频系统设备 第3部分：声频放大器测量方法 GB/T 12060.3-2011

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：输出高电平电压 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

检测项：高电平输出电流 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

检测项：ADC数字输出高电平、数字输出低电平电压 检测样品：集成电路A/D和D/A转换器 标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：输出高电平电压 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输出高电平电源电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：输出高电平电流 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3009.1

检测项：输出高电平电压 检测样品：电子元器件 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.7条

检测项：输出高电平电流 检测样品：电子元器件 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.11条

机构所在地：江苏省无锡市 更多相关信息>>