中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：输入正向阈值电压VIT+ 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：输入负向阈值电压VIT 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：输入正向阈值电压 检测样品：电子元器件 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.4条

检测项：输入负向阈值电压 检测样品：电子元器件 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.5条

机构所在地：江苏省无锡市 更多相关信息>>

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：栅源阈值电压（VGS(th)） 检测样品：场效应管 标准：半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 GB/T4586-94 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

国家激光器件质量监督检验中心

检测项：阈值电流 检测样品：半导体激光器 标准：SJ2749-1987 半导体激光二极管测试方法 SJ20957-2006 大功率半导体激光二极管阵列通用规范 GB/T 15175-2012 固体激光器主要参数测试方法

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

深圳天祥质量技术服务有限公司科技园经营部

检测项：接收LBT阈值 检测样品：工作在25MHz至1000MHz的SRD无线传输设备 标准：电磁兼容性及无线频谱事物（ERM）；短距离传输设备；工作在25MHz至1000MHz之间并且功率在500mW以下的射频设备；第1部分：技术特性及测试方法 ETSI EN 300 220-1 V2.1.1 (2006-04) ETSI EN 300 220-

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

深圳市巴伦检测技术有限公司

检测项：接收机LBT阈值 检测样品：25MHz至1000MHz短距离通信设备 标准：1) 电磁兼容性及无线电频谱管理（ERM）； 短距离传输设备（SRD）； 工作在25MHz至1000MHz之间并且功率在500mW以下的射频设备； 第1部分：技术特性及测试方法 ETSI EN 300 220-1 V2.4.1(2012-05) 2) 电磁

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>