武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：输出短路电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输出短路电流 检测样品：TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996

检测项：小信号短路正向跨导gfs 检测样品：场效应管 标准：半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

福建省正毅工业计量站有限公司

检测项：稳态短路电流 检测样品：伸长试验仪 标准：漆包绕组线试验仪器设备检定方法 伸长试验仪JB/T4279.3-1994

检测项：稳态短路电流 检测样品：伸长试验仪 标准：漆包绕组线试验仪器设备检定方法 伸长试验仪JB/T4279.3-1994

检测项：输出电流 检测样品：直流稳压电源 标准：测量用直流稳压电源装置JB/T 9303-1999

机构所在地：福建省厦门市 更多相关信息>>

上海电缆研究所检测中心

检测项：部分项目 检测样品：通信用光纤 标准：光纤复合架空地线 DL/T832-2003

检测项：部分项目 检测样品：通信用光纤 标准：光纤复合架空地线（OPGW）用预绞式金具 DL/T766-2003

检测项：部分项目 检测样品：通信光缆 标准：第2部分：光缆基本试验方法 GB/T 7424.2-2008

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：漏--源短路时的栅极截止电流IGSS 检测样品：晶体二极管 标准：GB4589.1-1989《半导体器件分立器件和集成电路总规范》

检测项：输出短路电流Ios 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：小信号短路正向跨导gfs 检测样品：晶体二极管 标准：GB4589.1-1989《半导体器件分立器件和集成电路总规范》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：TTL电路 标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

检测项：极限短路电流（基准部分）IOS 检测样品：脉宽调制器 标准：《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993

检测项：输入负载电流ILI 检测样品：TTL电路 标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

华北电力科学研究院有限责任公司

检测项：组串短路电流测试 检测样品：光伏发电单元 标准：《并网光伏系统：系统文档、调试和检测的最低要求》 IEC 62446:版本 1.0 2009-05

检测项：组串短路电流测试 检测样品：电气产品 (电磁兼容) 标准：《500kV超高压送变电工程电磁辐射环境影响评价技术规范》HJ/T 24-1998

检测项：测录三相短路特性曲线 检测样品：同步发电机及调相机 标准：《电气装置安装工程 电气设备交接试验标准》GB 50150-2006 （3.同步发电机及调相机） 《电力设备交接和预防性试验规程》Q/HBW-14701-2008 《电力设备交接和预防性试验规程》Q/CDT 107001-2005

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：栅源短路时的漏极电流 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-1994

检测项：短路电流 检测样品：运算 放大器 标准：半导体集成电路运算放大器测试方法基本原理 SJ/T10738-1996

检测项：输出电流 检测样品： 标准：

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：短路电流Isc 检测样品：模拟乘法器 标准：GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：ECL电路 标准：SJ/T10737-1996《半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理》

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：短路保护试验 检测样品：滤波器 标准：GB7343-1987《10kHz～30MHz无源无线电干扰滤波器和抑制元件抑制特性的测量方法》

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武汉网锐实验室(信息产业光通信产品质量监督检验中心)

检测项：短路电流及内阻水平 检测样品：信号网络浪涌保护器 标准：YD/T1542-2006 信号网络浪涌保护器(SPD) 技术要求和测试方法

检测项：协议测试 检测样品：以太网交换机(三层) 标准：YD/T 1295-2003支持IPv6的路由协议技术要求——开放最短路径优先协议（OSPF）

检测项：ATM相关测试 检测样品：高端路由器 标准：YD/T 1295-2003支持IPv6的路由协议技术要求——开放最短路径优先协议（OSPF）

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>