集成电路(IC)卡读写机检测实验

维卡软化点

简介

维卡软化点试验 (Vicat softening point test) 评价热塑性塑料高温变形趋势的一种方法。是在等速升温条件下，用一根带有规定负荷、截面积为1mm2的平顶针放在试样上，当平顶针刺入试样1mm时的温度，即为测得的维卡软化温度。维卡软化点测试仪器：维卡软化点温度测定仪查看详情>>

维卡软化点

简介

维卡软化点试验 (Vicat softening point test)

评价热塑性塑料高温变形趋势的一种方法。是在等速升温条件下，用一根带有规定负荷、截面积为1mm2的平顶针放在试样上，当平顶针刺入试样1mm时的温度，即为测得的维卡软化温度。

维卡软化点测试仪器：维卡软化点温度测定仪

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维卡软化点

收起百科↑ 最近更新：2017年04月17日

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江门出入境检验检疫局检验检疫技术中心

检测项：部分项目检测样品：读写作业台灯标准：GB/T9473-2008 读写作业台灯性能要求

检测项：部分项目检测样品：读写作业台灯标准：IEC60188-2001 高压汞蒸汽灯.性能规范

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广州赛西光电标准检测研究院有限公司

检测项：灯具外观、颜色和结构检测样品：读写作业台灯标准：读写作业台灯性能要求 GB/T 9473-2008

检测项：标志检测样品：读写作业台灯标准：读写作业台灯性能要求 GB/T 9473-2008

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中国北方车辆研究所测试中心

检测项：老炼检测样品：集成电路标准：GJB128A－97半导体分立器件试验方法方法1039

检测项：密封检测样品：集成电路标准：GJB128A－97半导体分立器件试验方法方法1071

检测项：外部目检检测样品：集成电路标准：GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序

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武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：反向电流IR 检测样品：双极型晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994

检测项：输入失调电流检测样品：运算放大器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

检测项：输入偏置电流检测样品：运算放大器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

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广东省电子电器产品监督检验所

检测项：稳态湿热检测样品：整流二极管标准：半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997

检测项：高温贮存检测样品：整流二极管标准：半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997

检测项：第一位特征数字所表示的防止固体异物进入试验检测样品：双极型晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994

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中国工程物理研究院计量测试中心

检测项：X射线检查检测样品：密封半导体集成电路标准：GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法》

检测项：芯片粘接的超声检测检测样品：密封半导体集成电路标准：GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法》

检测项：粒子碰撞噪声检测(PIND) 检测样品：密封半导体集成电路标准：GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法》

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武汉网锐实验室(信息产业光通信产品质量监督检验中心)

检测项：保安单元检测样品：总配线架保安单元标准：中国网通《集成电路过电压过电流保安单元总体要求》

检测项：过电压保护电气特性检测样品：总配线架保安单元标准：中国网通《集成电路过电压过电流保安单元总体要求》

检测项：过电流保护限流特性检测样品：射频连接器标准：YD/T 1329-2004通信设备过电压过电流保护用集成电路型保安单元

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：电压调整率检测样品：TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996

检测项：电流调整率检测样品：TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996

检测项：消耗电流检测样品：TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996

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北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：发射极-基极截止电流检测样品：晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管GB/T4587-1994

检测项：集电极-发射极截止电流检测样品：晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管GB/T4587-1994

检测项：集电极-基极击穿电压检测样品：晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管GB/T4587-1994

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云南昆船电子设备有限公司蓝海综合实验中心

检测项：发射极-基极截止电流检测样品：双极型晶体管标准：GB/T 4587-1994 半导体器件和集成电路第7部分：双极型晶体管

检测项：基极-发射极饱和电压检测样品：双极型晶体管标准：GB/T 4587-1994 半导体器件和集成电路第7部分：双极型晶体管

检测项：输入失调电流检测样品：TTL电路标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

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