音频输入电平范围检测实验

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range) 熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。熔点测试方法：毛细管法 ...查看详情>>

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range)

熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。

熔点测试方法：毛细管法

熔点测试仪器：

检测项目

收起百科↑ 最近更新：2017年03月13日

搜索条件所在地区: 所属类别:

香港科技园公司无线通讯测试中心

检测项：有用接收机输入电平范围检测样品：GSM 移动台标准：不测振动条件下的射频参数不测以下测试項： 12.2.1，12.2.2， 14.1.2.1, 14.1.2.2, 14.4.3, 14.6.2, 16.1, 18.1, 21.1, 21.2, 21.3.1, 21.3.2, 21.4.1, 22.1,

检测项：最大输入功率检测样品：WCDMA 移动台标准：只测 Band I, II, III, V and VI WCDMA 终端不测振动条件下的射频参数不测辐射条件下的射频测试不测测试項5.13.2, 7.6.3, 7.7.3, 7.11, 及 7.12

检测项：HS-PDSCH Reception 最大输入功率(16QAM) 检测样品：WCDMA 移动台标准：只测 Band I, II, III, V and VI WCDMA 终端不测振动条件下的射频参数不测辐射条件下的射频测试不测测试項5.13.2, 7.6.3, 7.7.3, 7.11, 及 7.12

机构所在地：更多相关信息>>

我要咨询联系我们
湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：功能检测样品：电平转换器标准：半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理 SJ/T 10804-2000

检测项：部分参数检测样品：电压调整器标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996

检测项：静态参数检测样品：电平转换器标准：半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理 SJ/T 10804-2000

机构所在地：湖北省孝感市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
山东省电子信息产品检验院（中国赛宝（山东）实验室、山东省网络与信息安全测评中心）

检测项：自动增益控制特性(当输出电平变化10dB时输入电平的变化)（AM）检测样品：声音广播接收机标准：声音广播接收机基本参数GB/T 9374-88

检测项：自动增益控制特性(当输出电平变化10dB时输入电平的变化)（AM）检测样品：声音广播接收机标准：声音广播接收机基本参数GB/T 9374-2012

检测项：自动增益控制特性(当输出电平变化10dB时输入电平的变化)（AM）检测样品：声音广播接收机标准：声音广播接收机基本参数GB/T 9374-2012

机构所在地：山东省济南市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
国家无线电监测中心检测中心/天维讯达无线电设备检测（北京）有限责任公司

检测项：最大输入电平检测样品：蓝牙设备标准：蓝牙HFP1.5测试规范 V1.5.10

检测项：EDR 最大输入电平检测样品：蓝牙设备标准：蓝牙PBAP测试规范 V1.0.5

检测项：高输入电平下的误码率检测样品：无线寻呼系统标准：GB/T15938-1995《无线寻呼系统设备总规范》

机构所在地：北京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：输入低电平电压检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入高电平电流检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入低电平电流检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

机构所在地：湖北省武汉市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国电子科技集团公司第三十六研究所计量测试中心

检测项：输入电平适应性检测样品：干扰激励器标准：GJB 3093-1997 通信干扰激励器通用规范

检测项：反向辐射电平检测样品：数字式搜索接收机标准：GJB 4268-2001 通信对抗数字式搜索接收机通用规范

检测项：反向辐射电平检测样品：功率放大器标准：GJB3258-1998 功率放大器通用规范

机构所在地：浙江省嘉兴市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：输入高电平电压VIH 检测样品：数字集成电路标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：数字集成电路标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：共摸输入电压范围VIC 检测样品：晶体三极管标准：GB/T4587-1994 《半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管》

机构所在地：北京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
北京振兴计量测试研究所

检测项：输入阈值电平电压VT(I) 检测样品：DC/DC电源模块标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

检测项：输入电流检测样品：标准：

检测项：湿热试验检测样品：红外目标模拟器标准：军用设备实验室环境试验方法：湿热试验； GJB150.9A－2009

机构所在地：北京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
上海精密计量测试研究所

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入高电平电压VIH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

机构所在地：上海市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：电压调整器标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：电压调整器标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》

机构所在地：湖北省武汉市更多相关信息>>

我要咨询联系我们

熔点

简介

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range)

检测项目

香港科技园公司无线通讯测试中心

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

山东省电子信息产品检验院（中国赛宝（山东）实验室、山东省网络与信息安全测评中心）

国家无线电监测中心检测中心/天维讯达无线电设备检测（北京）有限责任公司

武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

中国电子科技集团公司第三十六研究所计量测试中心

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

北京振兴计量测试研究所

上海精密计量测试研究所

中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

热点资讯MORE>

最新资讯MORE>

客户服务