音频输入电平范围检测实验

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range) 熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。熔点测试方法：毛细管法 ...查看详情>>

熔点

简介

熔点与熔点范围(Melting point and Melting range)

熔点是在一定压力下，纯物质的固态和液态呈平衡时的温度。熔点范围是指用毛细管法所测定的从该物质开始熔化至全部熔化的温度范围。

熔点测试方法：毛细管法

熔点测试仪器：

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国家无线电频谱管理研究所无线电设备检测实验室

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检测项：静态参考灵敏度电平检测样品：GSM移动通信直放机标准：《900MHz/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》YD/T 1337- 2005

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北京全路通信信号研究设计院监测检测实验室

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检测项：额定输出电平检测样品：铁路列车无线通信系统中继器标准：铁路无线列调通信系统入网技术检验规程（试行）条款：五（四）

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：输入高电平电流检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入低电平电流检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

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中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：输入高电平电压检测样品：电子元器件标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3022

检测项：输入高电平电流检测样品：电子元器件标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3007.1

检测项：输入低电平电流检测样品：电子元器件标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3010.1

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北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：半导体集成电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

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西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：输入高电平电流检测样品：CMOS集成电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

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中国空空导弹研究院元器件检测中心

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检测项：共摸输入电压范围VIC 检测样品：混合集成电路A/D、D/A变换器标准：SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理

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上海优立检测技术有限公司

检测项：最大输入电平检测样品：移动台标准：移动通信手持机可靠性技术要求与测试方法YD/T 1539-2006

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国营长风机器厂环境试验检测计量中心

检测项：输入高电平电压检测样品：数字集成电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

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上海无线电设备研究所环境与检测实验室

检测项：输入高电平电流检测样品：模拟集成电路标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

检测项：输入低电平电流检测样品：TTL电路、COMS电路标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996 《半导体集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇第

检测项：输出高电平电压检测样品：TTL电路、COMS电路标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996 《半导体集成电路第2部分:数字集成电路第Ⅳ篇第

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