联想移动通信科技有限公司实验室

检测项：交流输入电压 检测样品：移动通信手持机充电器 标准：移动通信手持机锂电池充电器的安全要求和试验方法 YD1268.2-2003

检测项：射频辐射和接收性能 检测样品：移动通信手持机 标准：《移动台空间射频辐射功率和接收机性能测试方法》YD/T 1484-2011

检测项：外观、包装和装配 检测样品：GSM数字移动终端（含手持机、车载终端和其他终端设备） 标准：2GHz TD-SCDMA 移动台空间射频辐射功率和接收机性能测量方法 YD/T 1977-2009

机构所在地：福建省厦门市 更多相关信息>>

广州海格通信集团股份有限公司软件测试中心

检测项：不带安全属性的用户数据输入 检测样品：智能卡 标准：GB/T 20276-2006 信息安全技术 智能卡嵌入式软件安全技术要求(EAL4增强级)

检测项：不带安全属性的用户数据输入 检测样品：智能卡 标准：GB/T 20276-2006 信息安全技术 智能卡嵌入式软件安全技术要求(EAL4增强级)

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：输入失调电流 检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备 标准：电工电子产品环境试验 第2部分： 试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

检测项：输入偏置电流 检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备 标准：电工电子产品环境试验 第2部分： 试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

检测项：输入偏置电流 检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备 标准：(1)电工电子产品环境试验 第2部分： 试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：输入失调电压(VOS) 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000

检测项：输入偏置电流(IB) 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000

检测项：输入失调电流(IOS) 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

中金金融认证中心有限公司

检测项：不带安全属性的用户数据输入 检测样品：智能卡嵌入式软件 标准：《信息安全技术智能卡嵌入式软件安全技术要求（EAL4增强级）》 GB/T 20276-2006

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

扬州光电产品检测中心

检测项：全部参数 检测样品：灯具 标准：GB 17625.1-2003/IEC61000-3-2:2009+C1:2009 电磁兼容限值谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)

检测项：全部参数 检测样品：灯具 标准：电磁兼容限值谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB 17625.1-2012 IEC61000-3-2:2009+C1:2009

检测项：电压、电流、功率测量 检测样品：平板光伏（PV）组件和电池板 标准：UL1703：2004 《平板光伏（PV）组件和电池板》，第20条款

机构所在地：江苏省扬州市 更多相关信息>>

山东省无线电监测站

检测项：最大输入电平 检测样品：TD-SCDMA数字蜂窝移动台 标准：YD/T 1368.1－2008 2GHz TD-SCDMA数字蜂窝移动通信网 终端设备测试方法 第一部分

检测项：最大平均功率及功率级控制 检测样品：GSM数字蜂窝移动台(GSM) 标准：YD/T 1215-2006《900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网通用分组无线业务（GPRS）设备测试方法：移动台》 YD/T 1214-2006《900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网通用分组无线业务（GPRS）设备技术要求：移

检测项：最大平均功率及功率级控制 检测样品：GSM数字蜂窝移动台(GPRS) 标准：YD/T 1215-2006《900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网通用分组无线业务（GPRS）设备测试方法：移动台》 YD/T 1214-2006《900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网通用分组无线业务（GPRS）设备技术要求：移

机构所在地：山东省济南市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第四十七研究所电子器件质量检测实验室

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：CMOS 电路测试 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：CMOS 电路测试 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输入钳位电压VIK 检测样品：TTL 电路测试 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996

机构所在地：辽宁省沈阳市 更多相关信息>>

北京科星瑞特电磁兼容工程技术有限公司电磁兼容实验室

检测项：输入到被试设备中的尖峰脉冲电压 检测样品：电子和电气产品、信息设备及工、科、医类设备 标准：飞机供电特性 GJB 181A-2003 飞机供电特性 MIL-STD-704F

检测项：输入到被试设备中的尖峰脉冲电压 检测样品：军用设备和分系统、武器系统 标准：飞机供电特性 GJB 181A-2003 飞机供电特性 MIL-STD-704F

检测项：输入到被试设备中的浪涌电压 检测样品：军用设备和分系统、武器系统 标准：军用车辆28伏直流电气系统特性 GJB2 98-87 军用车辆28伏直流电气系统特性 MIL-STD-1275D

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

杭州宇中高虹照明电器有限公司检测实验室

检测项：谐波电流 检测样品： 标准：低压电气及电子设备发出的谐波电流限值（设备每相输入电流≤16A） GB 17625.1-2003 IEC 61000-3-2:2005

机构所在地：浙江省临安市 更多相关信息>>