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检测项：输出电流限制(5.11) 检测样品：电池 标准：CTIA对电池系统IEEE1725符合性的认证要求 Rev 2.3
检测项：蓝牙输出功率TRM/CA/01/C 检测样品：蓝牙设备 标准：蓝牙射频测试规范 RF.TS/4.0.2
检测项：蓝牙输出频谱-频率范围TRM/CA/04/C 检测样品：蓝牙设备 标准：蓝牙射频测试规范 RF.TS/4.0.2
机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项：输入电流变化引起的输出改变量试验 检测样品：电力负荷管理终端 标准：DL/T 533-2007 《电力负荷管理终端》
检测项：尺寸偏差 检测样品：电力电缆 标准：GB/T 14049-2008 《额定电压10kV架空绝缘电缆》 GB/T 12706.1-2008 《额定电压1kV(Um=1.2kV)到35kV(Um=40.5kV)挤包绝缘电力电缆及附件 第1部分：额定电压1kV(Um=1.2kV)和3kV(Um=3
检测项：力学性能 检测样品：电力电缆 标准：GB/T 14049-2008 《额定电压10kV架空绝缘电缆》 GB/T 12706.1-2008 《额定电压1kV(Um=1.2kV)到35kV(Um=40.5kV)挤包绝缘电力电缆及附件 第1部分：额定电压1kV(Um=1.2kV)和3kV(Um=3
机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项：高电平输出电流 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
检测项：低电平输出电流 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
检测项：输出电流 检测样品：DC/DC电源变换器 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：输出漏电流 检测样品：混合和固体延时继电器 标准：《混合和固体延时继电器总规范》 GJB1513A-2009
检测项：中等电流切换试验 检测样品：电子及电气元件 标准：《微电子器件试验方法》 GJB548B-2005
检测项：中等电流 检测样品：电磁继电器 标准：《电磁继电器通用规范》GJB1042A-2002
机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项：输出电流和功率 检测样品：2类电源装置 标准：《2类电源装置》 UL 1310:2011
检测项：满负载输出电流 检测样品：2类电源装置 标准：《2类电源装置》 UL 1310:2011
检测项：最大输出电压 检测样品：2类电源装置 标准：《2类电源装置》 UL 1310:2011
检测项：牺牲阳极 输出电流 检测样品：在役 埋地管道 标准：埋地钢质管道阴极保护参数测量方法GB/T21246-2007 6.2
检测项：牺牲阳极 输出电流 检测样品：在役 埋地管道 标准：埋地钢质管道阴极保护参数测量方法 GB/T21246-2007 6.2
检测项：管内电流 检测样品：在役 埋地管道 标准：埋地钢质管道阴极保护参数测量方法GB/T21246-2007 7.0
机构所在地：河北省廊坊市 更多相关信息>>
检测项：输出短路电流 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项：高电平输出电流 检测样品：运算放大器 标准：SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理
检测项：低电平输出电流 检测样品：运算放大器 标准：SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理
检测项：输出短路电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
机构所在地：重庆市 更多相关信息>>
检测项：输出漏电流 检测样品：延时继电器 标准：GJB1513-1992混合和固体延时继电器总规范4.7.7
检测项：线圈电流 检测样品：旋转开关 标准：GJB734A-2002旋转开关（电路选择器，小电流容量）通用规范4.6.13
检测项：中等电流 检测样品：按钮开关 标准：GJB974-1990多单元按钮开关总规范4.7.22
机构所在地：安徽省蚌埠市 更多相关信息>>
检测项：输出电流IO 检测样品：DC/DC转换器 标准：SJ 20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法
检测项：输出高电平电流IOH 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
检测项：输出低电平电流IOL 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>
