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检测项：电压波动和闪烁 检测样品：信息技术设备 标准：GB17625.2-2007 电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制
检测机构：国家食品质量监督检验中心 更多相关信息>>
检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：电压比较器 标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》SJ/T 10805-2000
检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：存储器 标准：《半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理》SJ/T 10739-1996
检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：TTL电路 标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996
机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：电压比较器 标准：GB/T 6798－1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成电路TTL电路、CMOS电路 标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》
检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器 标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：DC/DC电源模块 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项：输出纹波电压 检测样品： 标准：
检测项：输出电压 检测样品：电压 调整器 标准：GB/T4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理
检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器 标准：SJ/T10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理
检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成 电路 (TTL) 标准：半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：半导体集成 电路 (TTL) 标准：半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：TTL 电路测试 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：TTL 电路测试 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996 （GB 3439-1982）
检测项：输出高电平电流IOH 检测样品：TTL 电路测试 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T10735-1996
机构所在地：辽宁省沈阳市 更多相关信息>>
机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>
