电子产品的可靠性十分重要，是产品质量的主要指标。我国电子仪器的可靠性试验遵循的标准是GB11463《电子测量仪器可靠性试验》，一般产品在鉴定时的可靠性指标是300H，如果按常用的定时截尾试验方案进行可靠性考核，总的试验时间要达到10000H左右。由于电子产品在设计研制阶段经历了反复多次的“试验——分析——改进——再试验”的可靠性增长试验过程。在这个过程中，由于采取了改进设计及工艺措施等一系列措施来消除失效，使失效的发生逐渐减少，而可靠性得以增长。我国的一些电子产品的可靠性指标比较国际先进标准还有差距，因此必须对国内外相关标准进行充分研究，真正从产品方案的论证、设计、生产、试验和使用全过程中对可靠性水平作出准确的评价，从而大大提高我国电子产品的可靠性水平，使产品质量达到世界先进水平。
       第一种方法是“试验——问题记录——再试验”模式。该方法就是把初步研制的产品，通过试验发现问题时，不是立即进行改进，而是把问题记录下来，待在一个试验阶段结束以及下一个阶段开始之前，根据各种失效模式的失效机理，集中地进行改进，然后再进行试验。采用这种试验法，产品可靠性将有较大的跃进。这种试验法，比较适用于一批试验机中，出现几个问题，其中一种问题是占主要地位而其余问题是次要的情况。

       第二种方法是“试验——改进——再试验”模式。该方法就是把初步研制的产品，通过试验，暴露产品的薄弱环节，分析产品的失效模式和失效机理，找出问题就立即改进，然后再试验证实所解决的问题，使产品的可靠性得到增长。这种方法在电子产品的研制阶段，通过系统试验，暴露出产品薄弱环节之后，根据具体情况，立即进行必要的改进是能够使产品的可靠性有大幅度的增长，这种方法比较适用于试验中只出现一种比较普遍和严重问题的情况，针对性较强。

       第三种方法是“含延缓改进的试验——改进——再试验”模式。该方法是将方法一和方法二结合起来，通过试验发现了产品的问题，有些改进在试验中了产品的问题，有些改进在试验中立即着手进行，有些延缓到试验结束后再作改进。在试验中，对能及时改进的问题，立即采取措施改进产品，提高可靠性，在试验阶段结束后，把延缓的问题至下次试验开始前进行改进，然后再进行试验，使产品的可靠性得到较大的增长。这种方法比较适合于试验中出现几种问题，并且一些问题能短期容易改进的，另一些问题却需要相当一段时间才能改进的综合情况。

       对于以上所述的三种方法，电子产品在研制阶段中，经过系统的试验，要根据暴露出的问题作具体分析，灵活应用。可靠性试验中常用的三种方法往往是周而复始地循环，并且一个循环比一个循环产品的可靠性水平向上增长，另外可靠性试验除通过系统试验外，还应根据具体情况通过气候环境试验、机械环境试验和人为正常使用等各方面的试验来暴露产品生产的薄弱环节，进行综合的科学分析，做相应的改进，使得电子产品在设计研制阶段对其固有可靠性有进一步的提高。